Badania modelowe systemów pomiarowych

• Autorzy: Szyper M.

Warianty tytułu

EN

Model testing of measurement systems

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Publikacja przedstawia zarys metody budowania modeli systemów pomiarowych oraz przegląd wybranych zastosowań badań modelowych. Koncepcja modelowania polega na odwzorowaniu struktury systemów jako układu elementów funkcjonalnych, powiązanych przetwarzanymi sygnałami. Poszczególne elementy modelowane są za pomocą specyficznych operacji. Taki sposób modelowania umożliwia osiąganie wysokiej jakości odwzorowania rzeczywistych właściwości systemów w ich modelach. Omówiono trzy rodzaje zastosowań badań modelowych: analizę błędów i wrażliwości oraz optymalizację.

EN

The paper presents an outline of a method of forming of measurement systems models, as well as a review of chosen applications of model investigations. The idea modelling of measurement systems structures onto networks of functional elements joined with converted signals. Individual elements are represented as particular operations upon input variables with regard of values of systems parameters. This method of modelling makes possible to achieve high quality mapping of real systems onto their models. Three types of model investigations are treated as a subject: analysis of errors and sensitivities as vell as optimisation.

Słowa kluczowe

PL

system pomiarowy; badania modelowe; modelowanie

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2000
• Tom: R. 46, nr 9
• Strony: 12--16
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., wzory

Twórcy

autor

Szyper M.

• AGH, Zakład Metrologii

Bibliografia

• [1] J. Gajda, M. Szyper: Modelowanie i badania symulacyjne systemów pomiarowych, wyd. nakł. Wydz. EAIiE AGH. Wyd. „Jartek s.c”, str. 400, Kraków 1998.
• [2] J. Gajda: Modelling and optimisation of the identification process, 15th IFIP Conference on Systems Modelling and Optimisation, Zurich, Sept. 1991.
• [3] J. Gajda: Uncertainty of the identification process. Systems Analysis Modelling Simulation, Gordon and Breach Science Publishers, Vol. 23, pp. 83-92, 1996.
• [4] J. Gajda, M. Szyper, Twardowski T.: Pakiet do symulacji systemów pomiarowych i ich elementów MISS for WINDOWS, materiały Sympozjum MiSSP. Zakład Metrologii AGH. Krynica, 1995.
• [5] J. Gajda, M. Szyper: Parametric optimisation of measuring systems according to the joint error criterion, IEEE Trans, on Instrumentation and Measurement. Vol. 46, Nr 4, pp. 769-775, Aug. 1997.
• [6] J. Gajda, M. Szyper: Structural and parametric measurement system optimisation. Systems Analysis Modelling Simulation, Gordon and Breach Science Publishers, Vol. 31, pp. 305-325, 1998.
• [7] J. Gajda, T Sidor: Optimal choise of samples number for fast numerical velocity determination in microcomputer driven shock-absorber tester. Systems Analysis Modelling Simulation, Gordon and Breach Science Publishers, Vol. 17, pp. 129-133, 1995.
• [8] T. Sidor: Komputerowe badania symulacyjne elektronicznych analogowych przetworników pomiarowych, seria: Monografie, Z.N. AGH, Kraków, 1985.
• [9] R. Sroka: Correction of nonlinearity error of phase angle modulator, mat. IMEKO TC-4 Symp., Neapol, 1998.
• [10] M. Szyper: Linear parametric modulation of a phase angle with wide range deviation in measurement systems. Measurement, Journal of IMEKO. Nr 16, pp. 31-35, UK, 1995.
• [11] M. Szyper: Metoda strukturalna w teorii przetworników pomiarowych, seria: Monografie, Z.N. AGH, z. 114, str. 69, Kraków, 1979.
• [12] M. Szyper, J. Gajda: Modelling and simulation of measuring systems elements. Systems Analysis Modelling Simulation, Gordon and Breach Science Publishers, Vol. 12, pp. 43-51, 1993.
• [13] M. Szyper: Lipschitz's measures of measuring systems sensitivity to variability of parameters. Systems Analysis Modelling Simulation, Gordon and Breach Science Publishers, Vol. 30, pp. 45-55, 1998.
• [14] T. Twardowski: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych z wykorzystaniem bazy danych, materiały konferencyjne: Metrologia Wspomagana Komputerowo, WSOWŁ, Zegrze - Warszawa, 1997.