Analiza wrażliwościowa spektrometru mas z innowacyjnym układem polaryzacji źródła elektronów

• Autorzy: Sikora J. , Szczepaniak L.

Warianty tytułu

EN

Sensitivity analysis of mass spectrometer with innovative biasing system ofin an electron source

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Praca prezentuje wyniki badań wrażliwości spektrometru mas z nowatorskim układem polaryzacji źródła elektronów, zapewniającym niezależny dobór natężenia prądu emisji elektronowej i napięcia przyśpieszającego elektrony. Dzięki takiemu rozwiązaniu możliwe jest wyznaczenie wrażliwości natężenia prądu jonowego niezależnie względem natężenia prądu emisji elektronowej i napięcia przyśpieszającego elektrony. Badania objęły również pozostałe charakterystyki spektrometru mas oraz wrażliwości natężenia prądu jonowego względem ciśnienia i napięcia przyspieszającego jony. Wyniki potwierdzają zalety nowego rozwiązania w spektrometrze mas.

EN

The sensitivity measurement results of a mass spectrometer (Fig. 1) with an innovative biasing system in an electron source [1] are presented. The biasing system ensures that an accelerating voltage and an electron emission current are independent of each other. Owing to that, the sensitivity of an ion current versus the electron emission current (Fig. 2), and independently versus the electron accelerating voltage (Fig. 3) can be determined. The researches included the determination of the mass spectrometer characteristics and sensitivity of the ion current in function of a pressure (Fig. 4.) and the ion current in function of an ion accelerating voltage (Fig. 5, Fig. 6). The results confirm that new biasing system is highly suitable for the mass spectrometer.

Słowa kluczowe

PL

wrażliwość; spektrometr mas; układ polaryzacji; prąd emisji elektronowej; napięcie przyśpieszające

EN

sensitivity; mass spectrometer; biasing system; ion current; electron emission current; accelerating voltage

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2012
• Tom: R. 58, nr 3
• Strony: 256--259
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys., wykr., wzory

Twórcy

autor

Sikora J.

autor

Szczepaniak L.

• Politechnika Lubelska, Katedra Automatyki i Metrologii, ul. Nadbystrzycka 38A, 20-618 Lublin,

Bibliografia

• [1] Sikora J.: Dual application of a biasing system to an electron source with a hot cathode, Measurement Science and Technology, Institute of Physics Publishing, 15, 2004, N10-14.
• [2] Sikora J.: Synteza układu polaryzacji źródła elektronów dla przyrządów pomiarowych w oparciu o kryterium wrażliwości,. Materiały XV Sympozjum Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych, Krynica 18-22 września 2005, KM AGH 2005, 81-88.
• [3] Durakiewicz T., Sikora J., Hałas S.: Work function variations of incandescent filaments during self-cooling in vacuum, Vacuum, Elsevier Ltd., 80, 2006, 894-898.
• [4] Szczepaniak L., Sikora J.: Stanowisko pomiarowe do badania próżniowych przyrządów pomiarowych z gorącą katodą w stanach statycznych i dynamicznych, Przegląd Elektrotechniczny, SIGMA-NOT, 3, /2008, 270-272.
• [5] Johnstone R. A. W., Rose M. E.: Spektrometria mas, PWN, Warszawa, 2001.
• [6] Halas S., Sikora J.: Electron emission stabiliser with double negative feedback loop,. Meas. Sci. Technol., Institute of Physics Publishing, 1, 1990, 980-982.