Wykorzystanie środowiska LabVIEW do oceny niepewności rozszerzonej wyniku pomiaru rezystancji

• Autorzy: Otomański P. , Krawiecki Z.

Warianty tytułu

FR

Application of LabVIEW environment to evaluation of expanded uncertainty of resistance measurement result

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy zaprezentowano możliwości zastosowania zintegrowanego środowiska programowania LabVIEW do końcowej oceny niedokładności wyniku pomiaru rezystancji. Przedstawiono przykładowe wyniki badań z wykorzystaniem wybranego multimetru przeprowadzone na zaprojektowanym i wykonanym stanowisku pomiarowym. Omówiono możliwości prezentacji i wizualizacji wyników pomiarów w postaci wygodnej i przyjaznej dla użytkownika. Tematykę prezentowaną w referacie przedstawiono z wykorzystaniem wybranych aplikacji.

EN

Possible application of the integrated LabVIEW environment to final evaluation of the resistance measurement accuracy is presented in the paper. The paper shows the measurement results obtained on a designed measuring position (Fig. 1) consisting of a multimeter indicating the conventional true value, examined resistors and a computer with control software. The multimeter used in the system is equipped with a communication interface IEEE-488.2, which makes it possible to control it remotely from the level of computer and developed application, written in the LabVIEW environment, based on the commands of SCPI standard. The designed measuring position has both research and teaching qualities and advantages. By using the LabVIEW environment - as it is illustrated with an example of the developed application - we can support or vary the teaching process of students in the field of metrology and measurement theory. The authors' present experience demonstrates that the developed software is a very useful instrument assisting the teaching process. The application of computer simulation to teaching is a requirement of modern education. The authors consider how the measurement results can be presented and visualised in a convenient and user-friendly form. The topics discussed in the paper were analysed with use of selected LabVIEW applications.

Słowa kluczowe

PL

niepewność rozszerzona; współczynnik rozszerzenia; przyrząd wirtualny

EN

expanded uncertainty; coverage factor; virtual instrument

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2011
• Tom: R. 57, nr 12
• Strony: 1561--1563
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys., wzory

Twórcy

autor

Otomański P.

autor

Krawiecki Z.

• Politechnika Poznańska, Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, ul. Piotrowo 3a, 60-965 Poznań,

Bibliografia

• [1] International Vocabulary of Metrology - basic and general concepts and associated terms, VIM, 3rd edition, JCGM 200:2008.
• [2] Evaluation of measurement data - Guide to the expression of uncertainty in measurement, BIPM, JCGM 100:2008.
• [3] Otomański P., Szlachta A.: The evaluation of expanded uncertainty of measurement result in direct measurement using the LabVIEW environment, Measurement Science Review, Vol. 8, No. 6, 2008, 147-150.
• [4] National Instruments Corporation: LabVIEW User Manual 1999.
• [5] Travis J. Kring J.: LabVIEW for everyone New York Prentice Hall, 2006.
• [6] LabVIEW - Measurement Manual National Instrument Corporation, 2000.
• [7] Sokoloff L. Applications in LabVIEW New Jersey Prentice Hall, 2004.
• [8] Turzeniecka D.: Ocena niepewności wyniku pomiaru, Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 1997.
• [9] Skubis T.: Podstawy metrologicznej interpretacji wyników pomiarów, Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, 2004.
• [10] Dokument EA-4/02 Wyrażanie niepewności pomiaru przy wzorcowaniu, Główny Urząd Miar, 2001.