PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
Tytuł artykułu

Przykłady zastosowań metod planowania i oceny eksperymentu w tomografii impedancyjnej i mikroskopii elektronowej

Autorzy
Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Selected applications of experiment planning and evaluation in the area of impedance tomography and electron microscopy
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Przedmiotem artykułu są wybrane zagadnienia z teorii eksperymentu, takie jak: testowanie hipotez statystycznych, ocena istotności wpływu czynników oraz ocena postaci równania regresji. Wiedza z tego zakresu została wykorzystana do oceny wyników pomiarów wykonanych na potrzeby impedancyjnej tomografii komputerowej (ocena krzywych poprawek, ocena wpływu czynników związanych z układem pomiarowym) oraz skaningowej mikroskopii elektronowej (ocena równania opisującego zniekształcenia obrazów pod wpływem zewnętrznego pola zakłócającego).
EN
In the paper selected problems of the theory of experiment like: statistical hypotheses testing, assessment of the significance of impact factors and evaluation of a regression equation [1, 2, 3, 4, 5, 6] are presented. Knowledge of this area may be useful for engineers when assessing the method of measurement and operation of a developed system. From the analysis performed for impedance tomography [7, 8, 9], using planning and evaluation of experiment methods, one can draw the following conclusions: although it is necessary to introduce corrections to the raw measurements, their values can be approximated by a linear regression curve, it is possible to follow the same correction curves (Fig.1) and the associated uncertainty for measurement results obtained by excitation of different pairs of electrodes, most of parameters relating to the measurement system, in the examined range of variation, had no significant effect on the obtained results - thanks to that, conclusions presented in the paper are more universal. In turn, the calculations performed for microscopic research [10, 11] showed that the derived forms of the regression equation (Fig. 2) describe correctly the empirical data, and the reproducibility of performed experiments was satisfactory. This improves reliability of the results concerning evaluation of the impact of the external magnetic field on the distortion level of observed images.
Wydawca
Rocznik
Strony
1289--1292
Opis fizyczny
Bibliogr. 11 poz., rys., tab., wzor
Twórcy
autor
  • Politechnika Warszawska, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Systemów Informacyjno-Pomiarowych, ul. Koszykowa 75, 00-661 Warszawa, oskwarek@iem.pw.edu.pl
Bibliografia
  • [1] Jaworski J., Morawski R., Olędzki J.: Wstęp do metrologii i techniki eksperymentu. Wydawnictwa Naukowo-Techniczne WNT, Warszawa 1992.
  • [2] Barford N. C.: Experimental Measurements: Precision, Error and Truth. Wiley, New York 1985.
  • [3] Oskwarek Ł.: Projektowanie i ocena systemu pomiarowego w kontekście techniki eksperymentu. Metrologia dziś i jutro, Wyd. Politechniki Wrocławskiej, Wrocław 2010, 73-84.
  • [4] Lehmann E. L., Romano J. P.: Testing Statistical Hypotheses. Springer, New York 2005.
  • [5] Korzyński M.: Metodyka eksperymentu. Wydawnictwa Naukowo -Techniczne WNT, Warszawa 2006.
  • [6] Kosmol M.: Wybrane zagadnienia metodologii badań. Wyd. Politechniki Śląskiej, Gliwice 2010.
  • [7] Holder D. S.: Clinical and Physiological Applications of Electrical Impedance Tomography. UCL Press, London 1993.
  • [8] Cherepenin V. A., Karpov A. Y., Korjenevsky A. V., Kornienko V. N., Kultiasov Y. S., Ochapkin M. B., Trochanova O. V., Meister J. D.: Three-Dimensional EIT Imaging of Breast Tissues: System Design and Clinical Testing. IEEE Transactions on Medical Imaging, vol. 21 6/2002, p. 662-667.
  • [9] Oskwarek Ł.: Metodyka doboru parametrów i struktury wielopunktowego systemu pomiarowego do tomografii impedancyjnej. Rozprawa doktorska, Instytut ETiSIP, Politechnika Warszawska, Warszawa 2003; [streszczenie rozprawy: Przegląd Elektrotechniczny, 7-8/2004, s. 743-747].
  • [10] Goldstein J., Newbury D. E., Joy D. C., Lyman C. E., Echlin P., Lifshin E., Sawyer L., Michael J. R.: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis. Springer, New York 2003.
  • [11] Płuska M., Oskwarek Ł., Rak R. J., Czerwiński A.: Measurement of Magnetic Field Distorting the Electron Beam Direction in Scanning Electron Microscope. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, vol. 58, 1/2009, no. 1, p. 173-179.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BSW4-0107-0006
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.