PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Monitorowanie warunków pracy zegarów atomowych

Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Monitoring of working conditions of atomic clocks
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule przedstawiono charakterystykę rozwiązań sprzętowych i oprogramowania podsystemów pomiarowych przeznaczonych do monitorowania podstawowych parametrów głównego (230V AC) i rezerwowego (akumulatorowego) systemu zasilania atomowych wzorców czasu i częstotliwości oraz ich warunków środowiskowych takich jak temperatura, wilgotność i ciśnienie atmosferyczne. Podsystemy tworzą kompleksowy system monitorowania warunków pracy wzorców czasu i częstotliwości.
EN
The paper presents the characteristics of measurement subsystems for monitoring environmental conditions and basic parameters of the main and backup power system of time and frequency atomic standards (atomic clocks). Both subsystems for monitoring power supply were implemented based on the universal USB DAQ cards with ADC converters and appropriates analog signal conditioners. Measuring current transformers (Fig.1) were used for conditioning signals (230 VAC) in the subsystem for monitoring main power supply. Resistance dividers and Hall effect sensors were applied in the subsystem (Fig.2) for monitoring DC voltage and current (in range up to 15 A) signals of backup power supply. The environmental monitoring subsystem (Fig.3) consists of instruments manufactured by LAB-EL company and allows for continuous multipoint monitoring of temperature, pressure and humidity. The software for the three subsystems (Figs. 4 and 5) was developed in an environment LabWindows/CVI, in the form of three separate modules with the possibility of communicating via network variables. Each software module carries out five basic tasks: subsystem configuration, control of measurement process, presentation of current data, presentation of historical data, detection and indication of alarm status. The subsystems or their components can be applied to other laboratories or institutions, in which there is a need for continuous monitoring of working conditions of electronic equipment.
Wydawca
Rocznik
Strony
1327--1329
Opis fizyczny
Bibliogr. 4 poz., rys.,
Twórcy
autor
Bibliografia
  • [1] Rau Z.: Program wieloletni „Rozwój telekomunikacji i poczty w dobie społeczeństwa informacyjnego” - raporty z zadań zrealizowanych w 2007 r.: SP VI.2 Uczestnictwo w Polskiej Atomowej Skali Czasu TA(PL) i Temps Atomique International (TAI). Utrzymanie systemów zdalnych porównań atomowych wzorców częstotliwości i skal czasu, Warszawa, 2008.
  • [2] NI USB-6008/6009 User Guide and Specifications, National Instruments, 2008.
  • [3] Grobelny D., Łobzowski A., Sochacki J.: Mierniki wilgotności, temperatury i składu powietrza, Pomiary Automatyka Kontrola nr 2/1997.
  • [4] Grobelny D., Łobzowski A., Sochacki J.: Interfejs cyfrowej pętli prądowej w miernictwie przemysłowy, Pomiary Automatyka Kontrola nr 3/1997.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BSW4-0087-0022
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.