Dopasowanie wartości parametrów pomiaru cyfrowego nierówności profilu do charakteru powierzchni przedmiotu

• Autorzy: Boryczko K.

Warianty tytułu

EN

Matching the parameter values of digital measurement to workpiece surface profile irregularities

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono dopasowanie parametrów pomiaru do rodzaju powierzchni i analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych dla celów rozpoznawania ich głównych składowych. Podano zależności parametrów cyfrowych pomiaru nierówności warunkujące ich częstotliwościowe zakresy rozpatrywania. W podsumowaniu podano zakres analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni z dolno- i górnopasmowymi rodzajami ograniczeń oraz wskazówki doboru parametrów pomiaru dla otrzymania właściwego zakresu analizy nierówności powierzchni.

EN

Conditions of measurement, the analogue-to-digital conversion and the frequency analysis of turned surface irregularities for the purpose of its main components identification are presented in the paper. A range of digital parameters have been defined along with their relation to each other, specifying the ranges in which they should be used in order to measure surface irregularity (Tab.1). The parameter values obtained by digital measurement vary within specific ranges, and hence determine the surface irregularities [1, 2, 3]. For this measurement, it is essential to select proper sampling interval hp and the number of measured data N for the value and character of the irregularities measured [4, 5] (Fig.2). The method of frequency analysis for periodical surface irregularities, with the application of power spectral density and the use of fast Fourier transformation (FFT), has been presented in papers [6, 7]. The required conditions for the method presented in this paper, and the possible matching of frequency to wide-band surface irregularities are presented. The maximum frequency of the given irregularity is determined by the value of the sampling interval. Due to this fact, the sampling interval values should be selected in a way to include the low-frequency range of dominant components of the surface irregularity [8] (Fig.3). To summarise, the resulting frequency range of surface irregularities, with high and low-frequency limitations, has been given. Furthermore, the indication of the suitable selection range to capture significant surface irregularities has been included.

Słowa kluczowe

PL

pomiary powierzchni; warunki pomiaru; struktura geometryczna powierzchni; analiza częstotliwościowa

EN

surface measurement; measurement conditions; surface geometrical structure; frequency analysis

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2010
• Tom: R. 56, nr 9
• Strony: 1063--1066
• Opis fizyczny: bibliogr. 8 poz., rys., tab., wzory

Twórcy

autor

Boryczko K.

• Politechnika Gdańska, Wydział Mechaniczny, ul. G. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk,

Bibliografia

• [1] Boryczko A.: Metoda analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych w diagnozowaniu układu obróbkowego, Wydawnictwo Politechniki Gdańskiej, Seria Monografie nr 42, Gdańsk 2003.
• [2] Konczakowski A.: Metrologiczne uwarunkowania analizy widmowej struktury geometrycznej powierzchni w diagnostyce obrabiarek. Zeszyty Naukowe Politechniki Gdańskiej, Mechanika nr 62, Gdańsk 1991.
• [3] Boryczko A.: Zmiany struktury geometrycznej powierzchni toczonych w diagnostycznym rozpoznawaniu oddziaływań obrabiarki. Zagadnienia Eksploatacji Maszyn, Vol. 36, Z. 3 (127), 2001, 155-169.
• [4] Boryczko A.: Conditions for measurement, analog-to-digital conversion and frequency analysis of irregularities of profile surface. Metrology and Measurement Systems, Vol. 4, No 2, 2002, 159-169.
• [5] Dong W. P, Mainsah E, Stout K. J.: Determination of appropriate sampling conditions for three-dimensional microtopography measurement. Int. J. Mach. Tools Manufact., vol. 36, no 12, 1996, 1347-1362.
• [6] Bendat J. S., Piersol A. G.: Metody analizy i pomiaru sygnałów losowych, PWN, Warszawa 1976.
• [7] Sherrington I., Smith E. H.: Areal Fourier analysis of surface topography. Part 1: Computational methods and sampling considerations. Surface Topography, no 3, 1990, 43-68.
• [8] Feld M., Konczakowski A., Boryczko A., Lipiński Z.: System do pomiaru i analizy widmowej struktury geometrycznej powierzchni w diagnostyce tokarek i procesu toczenia. Konferencja N-T „Metrologiczne Problemy w Technikach Wytwarzania”, WSI Koszalin, Koszalin-Mielno 1990, 67-79.