Wpływ błędów i niepewności wyników pomiarów na ocenę poziomu jakości procesów wytwarzania

• Autorzy: Tabisz R. A.

Warianty tytułu

EN

The influence of measurement errors and uncertainties on the evaluation of the quality level of production processes

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono przykładową analizę wpływu błędów i niepewności wyników pomiarów, na ocenę jakości procesów wytwarzania. Uzasadniono konieczność uwzględniania w tego rodzaju analizie, wpływów oddziaływań systematycznych i losowych. Obydwa rodzaje oddziaływań decydują o wartościach liczbowych wyników pomiarów. W konsekwencji decydują o wartościach wskaźników zdolności procesów wytwarzania(Cp), stanowiących liczbowe miary ich jakości. Zaproponowano kryterium kwalifikacji procesu pomiarowego, którego zamierzonym zastosowaniem jest wyznaczanie wartości wskaźnika zdolności procesów wytwarzania (Cp). Kryterium to umożliwia stosowanie tego samego procesu pomiarowego w pełnym cyklu doskonalenia procesu wytwarzania. Od najniższego poziomu jego jakości (Cp = 1), do najwyższego poziomu jakości "6Sigma" (Cp = 2).

EN

An analystical example of the influence of measurement errors and uncertainties on the evaluation of the quality level of production processes, is presented. This influence was analyzed using the existing dependence on the manufacturing process the capability index (Cp) and measurement process capability indices (Cg1, Cg2) [13], and also, the dependence on the latter indices [13]. Attention was paid to the existing variety in the understanding and defining of such notions as: the measurement, the measurement error, and the uncertainty of measurement results. This variety, can in some situations, make for errors and ambiguities [10]. The model of the industrial measurement process, taking into account systematic and random influences on the final result of measurement, is described. Introduced was the notions: "interval of the natural process variability," and "coverage interval". The method of appointing the length of this "coverage interval", is explained. This interval is a sum of the left-side extended uncertainty (U-) and the right-side extended uncertainty (U+). The length of this interval can be used as the numerical measure of the measurement process variability (MPV), and also for the creation of the final result of measurements [12]. The qualification criterion of the measurement process, which intended use is the appointing of the value of the manufacturing process capability index (Cp), is proposed. This index defines the capability of the production process for the manufacturing of products conforming with their design specification [4]. The use of this criterion in industry, makes it possible to use the same measurement process in the full cycle improvement of the production process, from the lowest quality level (Cp = 1), to the highest quality level "6Sigma" (Cp = 2) [12].

Słowa kluczowe

PL

procesy pomiarowe; błędy i niepewności; procesy wytwarzania; ocena jakości; wskaźniki zdolności procesów pomiarowych; wskaźniki zdolności procesów wytwarzania

EN

measurement processes; errors and uncertainties; manufacturing processes; quality evaluation; measurement processes capability indices; manufacturing processes capability indices

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2010
• Tom: R. 56, nr 9
• Strony: 1000--1005
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., rys., tab., wzor

Twórcy

autor

Tabisz R. A.

• Politechnika Rzeszowska, Wydział Elektrotechniki i Informatyki, Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych, ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów,

Bibliografia

• [1] PN-ISO 9000:2005: Quality Management Systems. Fundamen-tals and Vocabulary.
• [2] Harry M., Schroeder R.: Six Sigma. Wykorzystanie programu jakości do poprawy wyników finansowych. Oficyna Ekonomiczna. Kraków. 2001.
• [3] Iwasiewicz A.: Statystyczna analiza wydolności procesu. Normalizacja. Nr 5. 2001. ss. 3-11.
• [4] Kotz S., Lovelace C. R.: Process Capability Indices in Theory and Practice. Arnold & Oxford University Press. 1998.
• [5] Montgomery D. C.: Introduction to Statistical Quality Control. 5th Edition. John Wiley & Sons. 2005.
• [6] Tabisz R. A.: Proceedings of the 13 International Metrology Congress. 18-21 June, Lille. France. 2007. In the book: Transverse Disciplines in Metrology. ISTE-Wiley, 2009. pp. 791-801.
• [7] International vocabulary of metrology - Basic and general concept and associated terms (VIM). BIPM. JCGM 200:2008.
• [8] Ehrlich Ch., Dybkaer R., Wöger W.: Evolution of philosophy and description of measurement (preliminary rationale for VIM3). Accred. Qual. Asur. (2007). 12. pp. 201-218.
• [9] Rabinovich S. G.: Measurement Errors and Uncertainties. Theory and Practice. 3th. Edition. AIP Press. Springer Science and Media, Inc. 2005.
• [10] Willink R.: Coverage intervals and statistical coverage intervals. Metrologia. 41 (2004) L5-L6.
• [11] Fotowicz P.: An analytical method for calculating a coverage interval. Metrologia. (43), (2006), pp. 42-45.
• [12] Tabisz R. A.: Walidacja Przemysłowych Procesów Pomiarowych. Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej. Monografia. 2010 (w druku).
• [13] Barrentine L. B.: Concepts for R&R Studies. Second Edition. ASQ. Press. 2003.
• [14] Tabisz R. A.: Creating accuracy of industrial measurement systems for their intended use. Proceedings of the Join International IMEKO TC1 & TC7 Symposium. Ilmenau, Germany. September. 2005.