Selected problems of complex assessment of technical surface topography

• Autorzy: Cincio R.

Warianty tytułu

PL

Wybrane problemy kompleksowej oceny topografii powierzchni technicznych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

In the paper was introduced the system which consists collections of modules for receiving, normalization and data processing from profilographometer (coordinates of profiles - 2D) and modules to calculate of numerous collection of surface parameters (3D) and surface visualisation module. Additionally in the system developed a module for canvassing images 2D of technical surfaces and transformation data to images 3D along with estimation surface. Calculating of stereometric surfaces parameters with data representing flat image of surface (2D). It allow to additional enlargement range of the system on estimation tasks of surface topography such as surfaces of abrasive tools without use of contact- methods and without their disassembly from machine tools.

PL

W artykule przedstawiono poglądowy opis opracowywanego systemu składającego się z baz wiedzy zawierających relacje między parametrami 2D i 3D, baz danych, baz reguł wnioskowania, modułów analiz i wizualizacji, dokumentacji zespołów pomocniczych (akwizycji obrazów 2D) i modułów komunikacji z użytkownikiem. System umożliwia przetwarzanie danych z profilografometru, który wykorzystując wyniki z jednego lub dwóch pomiarów (zarysów w jednym przekroju o długości określanej przez system, dwóch pomiarów w przekrojach do siebie prostopadłych lub też zarys pomiaru po torze spiralnym według nowych koncepcji realizacji pomiarów profilografometrycznych opracowanych w polskich ośrodkach badawczych) oraz wykorzystując wiedzę zgromadzoną w formie reguł wnioskowania i w module sztucznych sieci neuronowych, pozwala na wyznaczenie licznego, komplementarnego zbioru parametrów stereometrycznych powierzchni. Możliwe jest ponadto wyznaczenie obrazu powierzchni o cechach statystycznych zgodnych z powierzchnią, na której przeprowadzono pomiar.

Słowa kluczowe

EN

profile measurements; knowledge base; neural network

PL

pomiar profilu; baza wiedzy; sieci neuronowe

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2010
• Tom: R. 56, nr 1
• Strony: 42--43
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Cincio R.

• Katedra Mechaniki Precyzyjnej, Wydział Mechaniczny, Politechnika Koszalińska,

Bibliografia

• [1] Mazurkiewicz A.: Nanonauki i nanotechnologie. Stan i perspektywy rozwoju. Wyd. Instytutu Technologii Eksploatacji, Radom 2007.
• [2] Łukianowicz Cz.: Podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła, Wyd. Pol. Koszalińskiej, Koszalin 2001.
• [3] Górecka R., Polański Z.: Metrologia warstwy wierzchniej, WNT, Warszawa 1983.
• [4] Jakubiec W., Malinowski J.: Metrologia wielkości geometrycznych, WNT, Warszawa 2004.
• [5] Oczoś K., Liubimov V.: Struktura geometryczna powierzchni. Podstawy klasyfikacji z atlasem charakterystycznych powierzchni kształtowanych, Oficyna Wyd. Pol. Rzeszowskiej, Rzeszów 2003.
• [6] Blunt L., Jiang X.: Advanced techniques for assessment surface topography, Kogan Page 2003.
• [7] Stout J. K., Blunt L.: Three Dimensional Surface Topography, Penton Press, London 2000.