Ocena mikronierówności powierzchni obrobionych na podstawie obrazu światła rozproszonego

• Autorzy: Kapłonek W. , Łukianowicz C.

Warianty tytułu

EN

Assessment of machined surface microroughness on a basis of scattered light image

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy zaproponowano wykorzystanie obrazów światła rozproszonego do oceny mikronierówności powierzchni obrobionych. Dokonano krótkiego opisu teorii rozpraszania światła na powierzchniach chropowatych. Uwzględniono przy tym, że zjawisko to może być wykorzystane do oceny struktury geometrycznej powierzchni metodami skaterometrycznymi wspomaganymi technikami przetwarzania i analizy obrazu. Pokazano również wybrane wyniki analiz densytometrycznych prowadzanych na obrazach światła rozproszonego uzyskanych dla różnych powierzchni obrobionych.

EN

In the paper a proposal of surface microroughness assessment by analysis of scattered light images is presented. A brief description of theoretical bases of light scattering from rough surfaces is given and discussed. There is contained the detailed analysis of the scattered light intensity spatial distribution, often assessed by BRDF (Bidirectional Reflectance Distribution Function). The authors show that the light scattering phenomenon can be used for surface roughness assessment by optical methods and supported by image processing and analysis techniques. The experimental investigations were performed on flat and cylindrical surfaces machined by milling and microfinishing. The acquired images of the scattered light for these surfaces were assessed by the densitometric analysis. There was measured the light intensity determined horizontally and vertically in the direction of x and y axis.

Słowa kluczowe

PL

skaterometria laserowa; przetwarzanie i analiza obrazu; machined surface; surface roughness

EN

laser scatterometry; image processing and analysis; machined surface; surface roughness

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2010
• Tom: R. 56, nr 1
• Strony: 28--29
• Opis fizyczny: Bibliogr., rys., wzory

Twórcy

autor

Kapłonek W.

autor

Łukianowicz C.

• Zakład Metrologii i Jakości, Katedra Inżynierii Produkcji, Politechnika Koszalińska,

Bibliografia

• [1] Pawlus P.: Topografia powierzchni - pomiar, analiza, oddziaływanie. Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów, 2005.
• [2] Adamczak S.: Pomiary geometryczne powierzchni - zarysy kształtu, falistości i chropowatości. WNT, Warszawa, 2008.
• [3] Łukianowicz Cz.: Podstawy pomiaru nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła. Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, Koszalin, 2001.
• [4] Kapłonek W., Łukianowicz Cz.: Analiza zakresu dynamicznego sygnału zawartego w obrazach skaterometrycznych przetworzonych metodą nakładania obrazów. Pomiary, Automatyka, Kontrola, Vol. 55, Nr 4, 2009, str. 232-235.
• [5] Tian G. Y., Lu R. S., Gledhill D.: Surface measurement using active vision and light scattering. Optics and Lasers in Engineering, 45, 2007, pp. 131-139.