Systemy do testowania mikroprocesorowych urządzeń pomiarowych

• Autorzy: Mróz P. , Urbański K. , Olencki A.

Warianty tytułu

EN

Systems for testing microprocessor-based measuring devices

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono strukturę uniwersalnego systemu testującego oraz przykład zastosowania takiego systemu do wzorcowania, kalibracji i sprawdzania dokładności na przykładzie stanowiska do testowania rejestratora mikroprocesorowego.

EN

It is necessary to test an accuracy of measuring devices. Testing systems are used to improve testing process. There are many kinds of microprocessor-based measuring devices. Differences between them depend on the kind and number of inputs and outputs as well as the functions realised by the device blocks. A structure of a universal, microprocessor-based measuring device is shown in Fig. 1. Most of the measuring devices are tested in dedicated testing systems. There are some differences between them. A structure of a universal testing system is presented in Fig. 2. The use of the testing system is illustrated by the example of testing a microprocessor-based recorder. Fig. 3 shows a view of the exemplary recorder and Fig. 4 - a view of the recorder without a transporter for paper rewinding. The power on/off switch and the keyboard with an LCD display to program the recorder parameters can be seen in this picture. This recorder has one universal input to measure signals from many kinds of sensors. The keyboard is used to select a sensor. A view of the testing system during its activation is shown in Fig. 5. The system consists of a calibrator - 1, a meter - 2, a switch module - 3, a connection adapter - 4, a system control unit - 5 and a testing device - 6. Fig. 6 shows a testing algorithm implemented in the described testing system.

Słowa kluczowe

PL

testowanie; system testujący; urządzenie pomiarowe

EN

testing; testing systems; measuring device

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2009
• Tom: R. 55, nr 7
• Strony: 429--431
• Opis fizyczny: Bibliogr. 2 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Mróz P.

autor

Urbański K.

autor

Olencki A.

• Instytut Informatyki i Elektroniki, Uniwersytet Zielonogórski,

Bibliografia

• [1] A. Sowiński.: Cyfrowa technika pomiarowa. WKiŁ, Warszawa, 1976.
• [2] P. Mróz: Algorytmy pracy systemów testujących mikroprocesorowe urządzenia kontrolno-pomiarowe. Rozprawa Doktorska, Uniwersytet Zielonogórski, Zielona Góra, 2002.