Method of Evaluation of Roundness Profiles of Machine Parts Using The Wavelet Analysis

• Autorzy: Makieła W. , Stępień K. , Stępień K.

Warianty tytułu

PL

Zastosowanie analizy falkowej do oceny zarys6w okrggioci czOci maszyn

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

In hitherto practice, roundness and cylindricity profiles have been evaluated using the Fourier transform. In numerous metrological branches, however, concerned with the evaluation of variable signals, the wavelet analysis is applied. Efforts have been undertaken to apply this method to the evaluation of geometrical surface structure. This paper describes the application of the Haar expansion to the approximation of roundness profiles and to the presentation of the concept of comparison of two roundness profiles decomposed by the wavelet method. The examples presented in the paper were used for preliminary evaluation of the proposed concept.

PL

W dotychczasowej praktyce w ocenie zarysów struktury geometrycznej powierzchni szeroko wykorzystuje się zasadę transformacji Fouriera. Znalazło to szczególne zastosowanie w analizie pomiarów okrągłości i walcowości. Z tego względu, że w wielu dziedzinach metrologii do oceny zarysów zmiennych stosuje się z dużym powodzeniem transformacjcę falkową, podjęto prace nad aplikacją, tej metody do oceny zarysów struktury geometrycznej powierzchni. Niniejszy referat poświcęony jest zastosowaniu rozwinięcia Haara do aproksymacji sygnałów zarysu nierówności powierzchni części maszyn oraz prezentacji koncepcji porównywania zarysów chropowatości powierzchni, które zostaly poddane dekompozycji falkowej. Przedstawione w referacie przykłady posłużyły do wstępnej oceny zaproponowanej metody.

Słowa kluczowe

EN

Haar wavelet; Fourier transform; wavelet transform; geometrical surface structure; roundness; cylindricity

PL

falka Haara; transformata Fouriera; transformata falkowa; struktura geometryczna powierzchni; okrągłość; walcowość

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2008
• Tom: R. 54, nr 5
• Strony: 244--247
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys., tab., wzory

Twórcy

autor

Makieła W.

autor

Stępień K.

autor

Stępień K.

• Faculty of Mechatronics and Machinery Design, Kielce University of Technology,

Bibliografia

• [1] Adamczak S., Janecki D.: Method of comparison of roundness profiles using cross-correlation function (in Polish). Metrology and measurement systems. vol. 5., z. 3. Warsaw 1998. pp. 141-151.
• [2] Adamczak S., Makieła W.: Concept of statistical comparison of measuring devices accuracy (in Polish). Proceedings of the symposium „Metrology in quality management systems -4" Kielce - Ameliówka. 22-24 Sept. 2003.
• [31 Rioul O., Vetterli M.: Waveletes and signal processing. IEEE Signal Processing Magazine, Oct. 1991, s. 14-38.
• [4] Coifman R. R., Wickerhauser M. V.: Adapted waveform analysis as a tool for modelling, feature extraction and denoising. Optical Engineering, vol. 33, no. 7, 1994, s. 2170-2174.
• [5] Rioul O., Duhamel P.: Fast algorithms for discrete and continuous wavelet transforms. IEEE Transactions on Information Theory, vol. 28, no. 2, 1992, s. 569-586.
• [6] Makieła W.: The wavelet analysis as a method approximating surface profiles" CEEPUS Science Report Project PL-0007 "Modern Metrology in Quality Management Systems" pp.129-142. Kielce 2006.