System Talysurf CCI 6000 - metodyka analizy cech powierzchni z wykorzystaniem TalyMap Platinium

• Autorzy: Cincio R. , Kacalak W. , Łukianowicz C.

Warianty tytułu

EN

System Talysurf CCI 6000 - methodic of analysis surface feature with using TalyMap Platinium

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono zasadę działania, metodykę przeprowadzania pomiarów oraz przykładowe możliwości analiz wykonywanych za pomocą ultraprecyzyjnego sytemu pomiarowego Talysurf CCI 6000 produkcji firmy Taylor-Hobson znajdującego się w Laboratorium Mikroinżynierii i Nanoinżynierii Katedry Mechaniki Precyzyjnej Politechniki Koszalińskiej. Artykuł zawiera również opis aplikacji do sterowania systemem Talysurf CCI 6000 pod nazwą TalyscanCCI oraz aplikacji do analizy wyników po-miarów TalyMap Platinium. Dodatkowo przedstawiono możliwości opraco-wywanej aplikacji "Realsurface v1.0", która uzupełnia możliwości anali-tyczne produktów Taylor-Hobson. Artykuł zakończono przedstawieniem różnych możliwości oprogramowania Talymap Platinum oraz wnioskami.

EN

In article introducted rule operation, realizing methodic of measurement and example possibilities of analyses realized with ultraprecise measuring sytem Talysurf CCI 6000 production by Taylor-Hobson, being found in Laboratory Microengineering and Nanoengineering of the Mechanics Precise Department of Koszalin University of Technology. The article contains also description of control application of system Talysurf CCI 6000 under name TalyscanCCI and application to results analysis of measurement TalyMap Platinium. Additionally introduced possibilities elaborated application "Realsurface v1.0" which supplements analytic possibilities of products Taylor-Hobson. The article was finished presentation of different possibilities of software Talymap Platinum and conclusions.

Słowa kluczowe

PL

pomiary powierzchni; ocena powierzchni

EN

surface measurement; surface assessment

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2008
• Tom: R. 54, nr 4
• Strony: 187--191
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., fot., rys.

Twórcy

autor

Cincio R.

autor

Kacalak W.

autor

Łukianowicz C.

• Wydział Mechaniczny, Politechnika Koszalińska,

Bibliografia

• [1] A. Mazurkiewicz: Nanonauki i nanotechnologie. Stan i perspektywy rozwoju. Wydawnictwo Instytutu Technologii Eksploatacji – Państwowego Instytutu Badawczego. Radom 2007.
• [2] Materiały Taylor-Hobson Polska.
• [3] R. Cincio, W. Kacalak: Wybrane problemy wnioskowania o topografii powierzchni na podstawie zarysów. X Warsztaty Naukowe PTSK Symulacja w badaniach i rozwoju, , str. 83-90, Kraków-Zakopane 2003.
• [4] R. Cincio, W. Kacalak: Wybrane problemy modelowania topografii powierzchni technicznych o określonych charakterystykach. X Warsztaty Naukowe PTSK Symulacja w badaniach i rozwoju, str. 75-82, Kraków-Zakopane 2003.
• [5] R. Cincio, W. Kacalak, S. Makuch: Metoda i algorytm generowania obrazów powierzchni o parametrach zgodnych z parametrami powierzchni szlifowanych. Zeszyty Naukowe Wydziału Mechanicznego Nr. 36, str. 203-210, Koszalin 2004.
• [6] R. Cincio, W. Kacalak: Nowe narzędzia do modelowania i analizy powierzchni kształtowanych w różnych procesach technologicznych. XI Warsztaty Naukowe PTSK Symulacja w badaniach i rozwoju, str. 176-183, Augustów 2004.
• [7] R. Cincio, W. Kacalak: System do analizy i oceny topografii powierzchni technicznych. Kongres Metrologii, Pomiary Automatyka Kontrola 9`2007, str. 515-518, Kraków 2007.
• [8] Cz. Łukianowicz: Podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła, Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, Koszalin 2001.