PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Nowa, metrologicznie zorientowana sieć neuronowa i metoda diagnostyki obiektów technicznych

Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
New, metrologicaly oriented neural network and method for technical objects diagnosis
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule przedstawiono nową, metrologicznie ukierunkowaną sieć neuronową oraz bazującą na niej metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, z klasyfikcją neuronową, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zaproponowano sieć neuronową z Dwu-centrowymi Radialnymi Funkcjami Bazowymi (DRFB), której walorem jest lepsze odwzorowanie słownika uszkodzeń, poprawa dokładności klasyfikacji i większa odporność na tolerancje, w porównaniu z siecią zawierającą jedno-centrowe radialne funkcje bazowe (RFB). Opisano 2 metody konstrukcji słownika uszkodzeń, w postaci rozproszonych krzywych identyfika-cyjnych, wykorzystujące transformację biliniową oraz analizę składowych głównych. Metodę zilustrowano na przykładzie diagnostyki 2 prostych układów analogowych. Może ona być stosowana do diagnozowania innych obiektów technicznych.
EN
In this paper a new metrologically oriented neural network and method for parametric fault localization and rough identification are presented. The characteristic feature of the network is application of new two-center radial basis functions in the hidden layer. In result, the better classification accuracy, as well as robustness against non-faulty component tolerances and measurement errors has been obtained, in comparison with known Radial Basis Function neural network. Two construction methods of fault dictionary in the form of dispersed identification curves are described: bilinear transformation and principal component analysis methods. The diagnosis method was illustrated on the exemplary 2 analog circuits. It can be used for diagnosis of other technical objects.
Wydawca
Rocznik
Strony
174--177
Opis fizyczny
Bibliogr. 4 poz., rys., tab., wzory
Twórcy
autor
  • Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Elektroniki, Politechnika Gdańska, zielonko@eti.pg.gda.p
Bibliografia
  • [1] R. Zielonko, M. Kowalewski: Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem specjalizowanej sieci neuronowej. W: Z. Kowalczuk, S. Wiszniewski (pod redakcją) Inteligentne wydobywanie informacji. PWNT, Gdańsk 2007.
  • [2] M. Aminian, F. Aminian: A Modular Fault-Diagnostic System for Analog Electronic Circuits Using Neural Networks With Wavelet Transform as a Preprocessor. IEEE Trans. on Instr. and Meas., vol. 56, no. 5, pp. 1546-1554, 2007.
  • [3] Z. Czaja, R. Zielonko: Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces. IEEE Trans. on Instr. and Meas., vol. 52, no. 1, pp. 97-102, 2003.
  • [4] M. Catelani, A. Fort: Soft Fault Detection and Isolation in Analog Circuits: Some Results and a Comparison Between a Fuzzy Approach and Radial Basis Function Networks. IEEE Trans. on Instr. and Meas., vol. 51, no. 2, pp. 196-202, 2002.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BSW4-0049-0024
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.