Optyczna interferometria niskokoherentna w diagnostyce powłok ochronnych

• Autorzy: Pluciński J. , Strąkowski M.

Warianty tytułu

EN

Optical low-coherent interferometry for diagnosis of protective layers

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule zaproponowano zastosowanie optycznej interferometrii niskokoherentnej w diagnostyce powłok ochronnych. W badaniach wykorzystano optyczny tomograf koherencyjny wykorzystujący interferometr w konfiguracji Michelsona. W układzie pomiarowym użyto podczerwone źródło promieniowania o krótkiej drodze koherencji, którym był światłowód fotoniczny pobudzany erbowym laserem femtosekundowym. Zastosowano detekcję zrównoważoną niewrażliwą na zmiany polaryzacji przez badany obiekt. Przedstawione wyniki pomiarów pokazały, że można tą techniką diagnozować powłoki ochronne bazujące na farbie zawierającej silnie rozpraszające lub absorbujące pigmenty.

EN

In this paper, the use of optical low-coherent interferometry for diagnosis of protective layer is proposed. We have used an optical coherent tomography (OCT) system which was based on Michelson interferometer. During our research, a super-continuum infrared light source based on photonic crystal fiber stimulated by a femtosecond erbium-doped laser was used. Balanced and polarization-sensitive detection was employed. Obtained measurement results demonstrate the ability of our system to diagnose high scattering or absorbing protective paint layers by the OCT system.

Słowa kluczowe

PL

optyczna interferometria niskokoherentna; optyczna tomografia koherentna; powłoka ochronna

EN

low-coherent interferometry; optical coherent tomography; protective layer

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2008
• Tom: R. 54, nr 3
• Strony: 157--160
• Opis fizyczny: Bibliogr. 18 poz., rys., wzory

Twórcy

autor

Pluciński J.

autor

Strąkowski M.

• Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, Politechnika Gdańska,

Bibliografia

• [1] Flournoy P. A., McClure R. W., Wyntjes G.: White-light interferometric thickness gauge. Applied Optics, Vol. 11, No. 9, pp. 1907-1915, 1972.
• [2] Huang D., Swanson E. A., Lin C. P., Schuman J. S., Stinson W. G., Chang W., Hee M. R., Flotte T., Gre gory K., Puliafito C. A., Fujimoto J.G.: Optical coherence tomography. Science, Vol. 254, pp. 1178-1181, 1991.
• [3] Bouma B. E., Teamey G. J. (Eds): Handbook of Optical Coherence Tomography. Marcel Dekker, New York, 2002.
• [4] Bashkansky M., Duncan M. D., Kahn M., Lewis Ill D., Reintjes J.: Subsurface defect detection in ceramics by high-speed high-resolution optical coherent tomography Optics Express, Vol. 22, pp. 61-63, 1997.
• [5] Bashkansky M., Reintjes J.: Subsurface detection and characterization of Hertzian cracks in advanced ceramic materials using optical coherence tomography Proceedings of SPIE, Vol. 4703, pp. 46-52, 2002.
• [6] Wiesauer K., Pircher M., Götzinger E., Bauer S., Engelke R., Ahrens G., Grutzner G., Hitzenberger C. K., Stifter D.: En-face scanning optical coherence tomography with ultra-high resolution for material investigation. Optics Express, Vol. 13, 1015-1024, 2005.
• [7] Stiffer D.: Beyond biomedicine: a review of alternative applications and developments for optical applications and developments for optical coherence tomography. Applied Physics B, Vol. 88, pp. 337-357, 2007.
• [8] Dunkers J. P., Phelan F. R., Sanders D. P., Everett M. J., Green W. H., Hunston D. L., Parnas R. S.: The application of optical coherence tomography to problems in polymer matrix composites. Optics and Lasers in Engineering, Vol. 35, pp. 135-147, 2001.
• [9] Wiesauer K., Pircher M., Götzinger E., Hitzenberger C. K., Engelke R., Gratzner G., Ahrens G., Oster R., Stifter D.: Measurement of structure and strain by transversal ultra-high resolution polarisationsensitive optical ultra-high resolution polarisation-sensitive optical. Insight, Vol. 49, pp. 275-278, 2007.
• [10] Fabritius T. and Myllyld R.: Dynamic optical coherence tomography for paper wetting measurements Proceedings of SPIE, Vol. 6293, pp. 629307-1-6, 2006.
• [11] Jasapara J. C.: Non-invasive characterization of microstructured optical fibers using Fourier domain optical coherence tomography. Optics Express, Vol. 13, pp. 1228-1233, 2005.
• [12] Liang H., Cucu R., Dobre G. M., Jackson D. A., Pedro J., Panneill C., Saunders D., Podoleanu A. Gh.: Application of OCT to Examination of Easel Paintings. Proceedings of SPIE, Vol. 5502, pp. 378-381, 2004.
• [13] Liang H., Cid M. G., Cucu R. G., Dobre G. M., Podoleanu A. Gh., Pedro J., Saunders D.: En-face optical coherence tomography - a novel application of non-invasive imaging to art conservation. Optics Express, Vol. 13, No. 16, pp. 6133-6144, 2005.
• [14] Ali J. H., Wang W. B., Ho P. P., Alfano R. R.: Detection of corrosion beneath a paint layer by use of spectral polarization optical imaging Optics Letters, Vol. 25, pp. 1303-1305, 2000.
• [15] Stifter D., Sanchis Dufau A. D., Breuer E., Wiesauer K., Burgholzer P., Höglinger O., Götzinger E., Pircher M., Hitzenberger C. K.: Polarisation-sensitive optical coherence tomography for material characterisation and testing, Insight Vol. 47, pp. 209-212, 2005.
• [16] Fercher A. F., Drexler W, Hitzenberger C. K., Lasser T.: Optical Coherence Tomography - principles and applications. Reports on Progress in Physics, Vol. 66, No. 2, pp. 239-303, 2003.
• [17] Rollins A. M., Izaat J. A.: SNR analysis of conventional and optimal fiber-optic low-coherence interferometer topologies. Proceedings of SPIE, Vol. 3915, pp. 1605-7455, 2000.
• [18] Podoleanu A. Gh.: Unbalanced versus balanced operation in an optical coherence tomography system. Applied Optics, Vol. 39, No. 1, pp. 173-182, 2000.