Dynamiczne metody oceny niedokładności konwersji a-c

• Autorzy: Domańska A.

Warianty tytułu

EN

Dynamic methods for estimating the inaccuracy of a-d conversion

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Efektywna ocena przetwornika A/C powinna być dokonywana techniką cyfrowego przetwarzania sygnałów. Powszechne są trzy rodzaje metod testowania przetwornika stosujących tę technikę: statyczne, histogramowe i dynamiczne. Wspólne dla metod dynamicznych jest stosowanie na wejściu sygnału sinusoidalnego, akwizycja sygnału (jedno lub wielokrot-na), wykorzystywanie do obliczeń parametrów sygnału po konwersji a-c. Metody, różniąc się algorytmami przetwarzania danych a w następstwie rodzajem wyznaczanych błędów, nie dają możliwości wyznaczania tych samych parametrów. Kompletny test przetwornika A/C implikuje określenie dwóch rodzajów parametrów: błędów statycznych powiązanych ze zmianą charakterystyki we-wy przetwornika oraz cech dynamicznych wyrażających zniekształcenia i zaszumienie sygnału wprowadzane przez przetwornik. Istnieją dwie główne metodologie charakteryzowania dyna-micznych cech przetwornika A/C. Pierwsza opiera się na metodzie analizy widmowej i stosuje dyskretną transformatę Fouriera (analiza danych w dziedzinie częstotliwości). Druga opiera się na metodzie z dopasowaniem krzywej o modelu z nieznanymi trzema lub czterema parametrami, które są estymowane (analiza danych w dziedzinie czasu). Artykuł jest poświęcony opisowi obu rodzajów metod dynamicznego testowania przetwornika A/C.

EN

The actual evaluation of the A/D converter should be performed using digital signal processing techniques. Based on it three test methods are commonly used to characterize an A/D converter: static analysis, histogram analysis and dynamic analysis. The dynamic methods operate in the same manner, i.e. a sine wave stimulus is applied to the converter and one or more records of data are taken from to the converter output response, which are taken processed to extract relevant parameters. As these methods differ in the data processing algorithms, and consequently in the type of errors detected, they do not provide the same characterisation parameters. The full test of an A/D converter implies the determination of two kinds of parameters: the static errors linked to some deviations of the converter transfer function, and the dynamic features expressing the distortion and noise of the converted signal introduced by the converter. There exist two major methodologies for A/D converter dynamic features characterizatio. One is the spectral analysis method based on the usage of the discrete Fourier transform (frequency-domain data analysis). The other is the curve-fit test method performing the estimation of three or four unknown model parameters (time-domain data analysis). This article is devoted to the description both of dynamic test methods of A/D converter.

Słowa kluczowe

PL

przetwornik A/C; parametry dynamiczne; testowanie

EN

A/D converter; dynamic parameters of A/D converter; testing

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2007
• Tom: R. 53, nr 9
• Strony: 9--13
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., rys., wzory

Twórcy

autor

Domańska A.

• Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska,

Bibliografia

• [1] Barzykowski J., (red.), Współczesna metrologia zagadnienia wybrane, WNT, Warszawa, 2004.
• [2] Bilau T., Megyeri T., Sarhegyi A., MarlutsJ., Kollar I., Four-parameter fitting of sine wave testing result: iteration and convergence, Computer Standards and Interfaces, Vol. 26, 2003.
• [3] Breitenbach A., Determinig figures of merit from analog-to-digital converter output spectra, Computer Standards and Interfaces, Vol. 19, 1998.
• [4] Cruz Serra A., Alegria F., Martins R., Fonseca da Silva M., Analogto-digital converter testing-new proposals, Computer Standards and Interfaces, Vol. 26, 2003.
• [5] Dallet D., Berthoumieu Y., A survey on the dynamic characterization of A/D converters, Measurement, Vol. 24, 1998.
• [6] Dallet D., Slepicka D., Berthoumieu Y., Haddadi D., Marchegay P., [ADC characterization in time domain] Frequency estimation to linearize time domain analysis of A/D converters, IEEE Tr on Instrumentation and Measurement, Vol. 55, No. 5, 2006.
• [7] Fonseca da Silva M., Cruz Serra A., New methods to improve convergence of sine fitting algorithms, Computer Standards and Interfaces, Vol. 25, 2002.
• [8] Fonseca da Silva M., Ramos P., Cruz Serra A., A new four parameter sine fitting technique, Measurement, Vol. 35, 2004.
• [9] PaceP., Advanced techniques for digital receivers, Artech House, Boston, 2000.
• [JO] Sarhegyi A., Kollar I., Robust sine wave fitting in ADC testing, IMTC, Sorrento, 2006.
• [11] IEEE Std 1241, 2000.