Generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych

• Autorzy: Rudnicki T.

Warianty tytułu

EN

Test Pattern Generator for Delay Faults

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Rejestr MISR pobudzany słowami odczytywanymi z pamięci ROM jest jednym z ostatnio oferowanych rozwiązań problemu generacji par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych. W niniejszej pracy przedstawiono koncepcję zmniejszania liczby słów programujących oraz takiej modyfikacji grafu pracy ww. generatora par testowych, która pozwala na uzyskanie akceptowalnego czasu testowania przy stosunkowo wysokim współczynniku pokrycia uszkodzeń opóźnieniowych. W pracy przedstawiono rezultaty eksperymentów, w których wygenerowano opracowaną metodą pary testów dla benchmarków ISCAS'89.

EN

One of the recently proposed solutions to the problem generation of test pairs' patterns to target delay faults is a Multiple Input Signature Register (MISR). The paper proposes a method to minimize control words and to modify the operation diagram of the Test Pattern Generator (TPG) aiming at achieving acceptable test times while ensuring a very high coverage of delay faults. Experimental results are presented, in which the method of test pairs for benchmarks of the ISCAS'89 has been employed. These results confirm a high effectiveness of this method compared to other solutions.

Słowa kluczowe

PL

MISR; pary testowe; pokrycie uszkodzeń; CUT

EN

MISR; test pairs; Cover of Delay Faults; CUT; ROM

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2007
• Tom: R. 53, nr 7
• Strony: 95--97
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Rudnicki T.

• Instytut Elektroniki, Politechnika Śląska,

Bibliografia

• [1] Furuyaya, E. J. McCluskey: Two:Pattern Test Capabilities of Autonomous TPG Circuits. IEEE International Test Conference, 1991.
• [2] M. Keim, I. Polian, H. Hengster, B. Becker: A scalable BIST architecture for delay faults, European Test Workshop, 1999.
• [3] I. Polian, B. Becker: Configuring MISR-Based Two-Pattern BIST Using Boolean Satisfiability, DDECS, 2003.