PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

System akwizycji danych i model wzorca do weryfikacji dokładności rezystancyjnego systemu tomograficznego

Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Data Acquisition System and Reference Model Used for Investigation of Resistance Tomography System Verification Method
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule przedstawiono praktyczne rozwiązanie i wyniki badań systemu akwizycji danych i metody metrologicznej weryfikacji dokładności rezystancyjnego systemu tomograficznego. Metoda weryfikacji oparta jest na zastosowaniu wzorca (symulującego rozkład rezystywności) złożonego z sieci elementów dyskretnych - rezystorów i kondensatorów. Proponowana metoda pozwala na weryfikację dokładności, selektywną lub sumaryczną, elementów systemu tomograficznego.
EN
In this paper the accuracy verification technique and the data acquisition system are proposed and investigated. The verification method is based on the reference model of conductivity distribution. The reference model is constructed as a network of the discrete resistors and capacitors. Proposed technique permits to verify (jointly or separately) the data acquisition system, reconstruction algorithm and approximation effects. The reference network parameters and the stages of the verification are described.
Wydawca
Rocznik
Strony
26--29
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz., rys., wzory
Twórcy
  • Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych, Politechnika Rzeszowska, ppot@prz.edu.pl
Bibliografia
  • [1] F. J. Dickin, Xi. Zhao, M. Z. Abdulach and others: Tomographic imaging of industrial process equipment using electrical impedance sensors. Sensors VI: Technology, Systems and Applications. 1991. Proceedings of the 5 th Conference on Sensors and Their Application. Edited by K. T. V. Grattan. Bristol, Philadelphia and New York: Adam Bigler. 1991, pp. 215-220.
  • [2] F. J. Lidgey, Q. S. Zhu, C. N. McLeod, W. R. Breckon: Electrode current determination from programmable voltage sources. Electrical Impedance Tomography. Clinical Physics and Physiological Measurement. Volume 13, Supplement A, 1992. - pp. 43-46.
  • [3] M. Dorożowec: Modele dyskretne zagadnień tomografii elektrycznej. Pomiary. Automatyka. Kontrola. N 7-8/2003. Warszawa. s. 21-25.
  • [4] M. Dorozhovets, I. Basarab-Horwath: Using Equivalent Electrical Networks for Sensitivity Maps Calculation in Electrical Tomography. 3nd International Symposium on Process Tomography in Poland 2002. Proceedings. 9-10 September 2004, Lecli, Poland. s. 44-47.
  • [5] S. H. Khan, F. Abdullah: Validation of Finite Element Modelling of Multielectrode Capacitive System for Process Tomography Flow Imaging. Tomographic techniques, 1993, p. 63-73.
  • [6] M. Z. Abdulach, S. V. Quick, F.J. Dickin: Quantitative algorithm and computer architecture for real-time image reconstruction in process tomogaphy. Tomographic techniques, 1993, p. 179-192.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BSW4-0032-0020
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.