PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Redukcja błędów niejednoczesności próbkowania przy pomiarach mocy

Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Reduction of non-simultaneous sampling errors in power measurement
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Mikroprocesorowy przetwornik pomiarowy mocy wyposażony w jeden wielokanałowy przetwornik A/C nie może próbkować jednocześnie przebiegów prądu i napięcia. Próbkowanie niejednoczesne jest przyczyną błędów pomiaru. W artykule scharakteryzowano te błędy oraz przedstawiono prosty sposób ich redukcji.
EN
Use microcontrollers to build electrical measuring converters is very economical. But most popular microcontrollers have one embedded analog to digital converter with input's multiplexer. They are unable to sample two input analog signal (voltage and current) at the same time. The non-simultaneous sampling of current and voltage signals results in measurement errors. The characteristic of these errors and simple method for reduction of errors are presented in the paper.
Wydawca
Rocznik
Strony
46--47
Opis fizyczny
Bibliogr. 3 poz.
Twórcy
autor
Bibliografia
  • [1] Bolikowski J.: Problematyka dokładności pomiaru mocy sygnałów niesinusoidalnych. Szkoła - Konferencja Elektrotechnika Prądy Niesinusoidalne – EPN’2000
  • [2] Texas Instruments: TMS320LF/LC240xA DSP Controllers. Reference Guide. System and Peripherals. SPRU357B Revised December 2001
  • [3] Texas Instruments: TMS320F28x Analog-to-Digital Converter (ADC). Peripheral Reference Guide. SPRU060 June 2002
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BSW4-0029-0012
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.