Stanowisko do sprawdzania dokładności czujników zegarowych w laboratoriach przemysłowych

• Autorzy: Rudziński R.

Warianty tytułu

EN

A dial indicator accuracy testing station for industrial laboratories

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono wykonane w Instytucie Metrologii i Systemów Pomiarowych stanowisko do sprawdzania czujników zegarowych o działce elementarnej 0,01 mm i zakresie do 10 mm. Stanowisko to dzięki opracowanemu programowi komputerowemu znacznie skraca czas pomiaru, pozwalając na sprawdzanie błędów czujników w sposób półautomatyczny.

EN

A station for testing dial indicators was developed in the Institute of Metrology and Measurement Systems. The station is designed for examination of indicators with scale interval of 0,01 mm in the range of 10 mm. Implementation of an original software ensures fast testing of indicators in a semi-automatic way.

Słowa kluczowe

PL

stanowisko do sprawdzania dokładności czujników zegarowych; laboratorium przemysłowe; czujniki zegarowe

EN

dial indicator accuracy; testing station; industrial laboratories

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2005
• Tom: R. 51, nr 12
• Strony: 31--33
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Rudziński R.

• Instytut Metrologii i Systemów Pomiarowych, Wydział Mechatroniki, Politechnika Warszawska,

Bibliografia

• [1] PN 68/M 53260. Czujniki zębate zegarowe
• [2] Przepisy metrologiczne o przyrządach czujnikowych mechanicznych. Dziennik Urzędow7 Miar i Probiernictwa nr 11 Warszawa, 19 kwietnia 1996, str. 358-361
• [3] Instrukcja sprawdzania czujników zębatych zegarowych z działką elementarną o wartości 0,01 mm. Dziennik Urzędowy Miar i Probiernictwa nr 11 Warszawa. 19 kwietnia 1996, str. 374-377
• [4] Praca zbiorowa pod red. J. Tomasika. Sprawdzanie narzędzi do pomiaru długości i kąta. Oficyna Wydawnicza PW 2003.
• [5] Rudziński R., Tomasik J.: Kalibracja czujników przemieszczeń z wykorzystaniem komputerowego stanowiska. VI 74-377. Sympozjum Klubu Polskie Forum ISO 9000 "Metrologia w systemach jakości". Kielce 16-18.10.2000 r. Mater. Sympozjum Wyd. Politechniki Świętokrzyskiej, t. I, s. 185-192
• [6] Katalogi i prospekty firm ZEISS, MAHR, MITUTOYO, SYLYAC