From Nanometrology to Picometrology - metrology for Human Life and technical Development in the 21st Century

• Autorzy: Afjehi-Sadat A. , Osanna P. H. , Durakbasa M. N.

Warianty tytułu

PL

Od nanometrologii do pikometrologii - metrologia dla ludzkiego życia i rozwoju technologicznego XXI wieku

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

In this article the importance of nanometrology and nanotechnology in general for scientific research and especially for production engineering is described and particulary the influence on technical development, high precision manufacturing but also for circumstancies of human life is demonstrated. High accuracy measurement technique and metrology must be given a key role in modern production environment. Essential contributions to increase the quality of products and the productive power of industrial plants can be reached through the aimed application of nanometrology.

PL

Przedstawiono podstawowe znaczenie nanometrologii i nanotechnologii w badaniach naukowych koncentrując się przede wszystkim na inżynierii produkcji. Podkreślono wpływ nanometrologii i nanotechnologii na rozwój techniczny, wytwarzanie o wysokiej dokładności jak również ich znaczenie w życiu człowieka. Techniki pomiarowe o wysokiej dokładności i metrologia powinny odgrywać kluczową rolę w warunkach nowoczesnej produkcji. Dzięki zastosowaniom nanotmetrologii można uzyskać znaczący wzrost jakości wyrobów i zdolności produkcyjnych.

Słowa kluczowe

EN

nanometrology; nanotechnology; precision manufacturing; measurement technique; quality management; picometrology; metrology; human life; technical development; 21st Century

PL

nanometrologia; pikometrologia; metrologia; życie ludzkie; rozwój technologiczny; wiek XXI

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2004
• Tom: R. 50, nr 12
• Strony: 10--14
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Afjehi-Sadat A.

• Department for Interchangeable Manufacturing and Industrial Metrology, Viena University of Technology

autor

Osanna P. H.

• Department for Interchangeable Manufacturing and Industrial Metrology, Viena University of Technology

autor

Durakbasa M. N.

• Department for Interchangeable Manufacturing and Industrial Metrology, Viena University of Technology

Bibliografia

• [1] Kienzle, O.: Genauigkeitsansprueche des Konstrukteurs und ihre Verwirklichung durch die Fertigung. Industrieanzeiger 82 (1960), No. 62, pp. 26742.
• [2] Swyt, D.: Challengest to NIST in Dimensional Metrology: The Impact of Tightening Tolerances in the U. S. Discrete-Part Manufacturing Industry. NIST report IR4757, Gaithersburg: National Institute for Standards and Technology, Precision Engineering Division, 1992.
• [3] Tabenkin, A.: Effects of Form and Finish on Tolerances. Quality, Vol. 9, 1993.
• [4] Taniguchi, N.: On the Basic Concept of Nanotechnology. Proc. Int. Conf. Prod. Eng., Tokyo: JSPE, 1974, part 2, pp. 18/23.
• |5] Whitehouse, D. I.: Nanotechnology Instrumentation. Measurement + Control 24 (1991), No. 2, pp. 37/46.
• [6] Osanna. P. H.: Dreidimensionales Messen. Future 80. Frankfurt: Ingenieur-Digesl-Verlag, 1980, pp. 216/218.
• [7] Whitehouse, D. J., Bowen, D. K., Chetwynd, D. G., Davies, S. T.: Nanocalibration for stylus based surface measurement. J. Phys. E.: Sci. Instrum., 21, pp. 46/51.
• [8] Binning, G., Rohrer, H.: The scanning tunneling microscope. Sci. Amer., 253, 1985, pp. 40/46.
• [9] Binning. G., Rohrer, H.: Scanning tunneling microscopy. IBM J. Res. Develop.. 30, 1986, pp. 355/369.
• [10] Stroscio, J. A., Eigler, D. M.: Science 254, 1319 (1991).