Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
W części I - PAK 4/2003 wkładka Metrologia Technika Pomiarowa, podano podstawowe zależności rezystancyjnych mostków czterogałęziowych zasilanych bądź klasycznie po przekatnej z pojedynczego źródła prądu stałego, bądź niekonwencjonalnie - z dwu takich jednakowych źródeł równoległych do gałęzi naprzeciwległych mostka. Wyznaczono ich parametry w stanie równowagi. Omówiono też błędy w pracy mostków dwuprądowych przy różniących się prądach źródeł zasilających oraz metodę eliminacji ich wpływu poprzez uśrednienie wyników dwu pomiarów przy zamianie źródeł miejscami. W części drugiej omówiono podstawowe zależności niezrównoważonych mostków dwuprądowych prądu stałego na tle mostka jednopadowego. Przedstawiono kilka propozycji oryginalnych zastosowań tych mostków, w tym do pomiarów dwuparametrowych i do wyznaczania przyrostów każdej z rezystancji ramion mostka. Podaje się też wyniki innych prac z tej dziedziny i zestawienie potencjalnych aplikacji mostków dwuprądowych w technice pomiarowej oraz szereg wniosków. Bibliografię zamieszczono w części I.
In this publications single double curent supply and unbalanced bridges are analysed. Their output voltages, short circuit currents and then bridge diagonal output resistances dependent on relative increments of arm resistances from their balance values, are given. Conditions of obtaining output voltages linear forms are also given. Double current unbalanced bridge with one or two pairs of sensors, which change differently their resistances depending on two measured variables, could simultaneoudsly measures these variables. The measurement method of all four-bridge resistance increments is also presented. Field of potential applications and some practical conclusions are given at the end. balanced and unbalanced double current bridges could be used successfully, especially as new input circuits for signal conditioning of double immitance sensors, for circuit diagnostics and for measurement of changes of material properties` and of fields` distributions. They offer new metrological possibilities, but next investigations are still needed.
Słowa kluczowe
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
I--IV
Opis fizyczny
rys., tab., wzory
Twórcy
autor
Bibliografia
Uwagi
Wkładka do zeszytu PAK nr 12/2003
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BSW4-0009-0038