Metody wzorcowania analogowych mierników bardzo dużych rezystancji. Część II: Metod interpolacyjna i metody pośrednie

• Autorzy: Lisowski M.

Warianty tytułu

EN

Methods of Calibration of Analogue High Resistance Meters - Part II

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule opisano metody wzorcowania mierników bardzo dużych rezystancji, działających na zasadzie pomiaru prądu przepływajacego przez mierzony rezystor przy znanym napięciu źródła. W części II opisano opracowane przez autora nowa metodę interpolacyjną i metody pośrednie, które umożliwiają wzorcowanie tych mierników w zakresach pomiarowych wyższych od wartości posiadanych rezystorów wzorcowych.

EN

Methods of calibration of high resistance meters, working on a measurement of the current flowing by the measured resistor with the known voltage source have been described in the paper. In the II part there are described worked out by the author new interpolation method and indirect methods, which enable calibration of such meters in the measuring ranges higher than the value of possessed calibration resistors.

Słowa kluczowe

PL

mierniki analogowe

EN

Analouge High Resistance

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2003
• Tom: R. 49, nr 6
• Strony: 12--14
• Opis fizyczny: Bibliogr. 17 poz.

Twórcy

autor

Lisowski M.

• Instytut Elektrotechniki, Oddział Technologii i Materiałoznatwa Elektrotechnicznego, Wrocław

Bibliografia

• [1 ] PN-EN 60051-9:2000 Elektryczne przyrządy pomiarowe wskazujące analogowe o działaniu bezpośrednim i ich przybory. Zalecane metody badań.
• [2] PN-EN 60051 -1:2000 Elektryczne przyrządy pomiarowe wskazujące analogowe o działaniu bezpośrednim i ich przybory. Definicje i wymagania wspólne dla wszystkich arkuszy normy.
• [3] PN-EN 60051 -6:2000 Elektryczne przyrządy pomiarowe wskazujące analogowe o działaniu bezpośrednim i ich przybory. Wymagania specjalne dotyczące omomierzy (mierników impedancji) i mierników przewodności.
• [4] Zarządzenie Prezesa Głównego Urzędu Miar I dnia 11 lipca 2000 r. nr 19 w sprawie wprowadzenia instrukcji sprawdzania mierników oporu izolacji. Dz. Urz. Miar i Probiernictwa 2000, nr 4, s. 152.
• [5] PN-EN-ISO/IEC 17025: 2001 Ogólne wymagania dotyczące kompetencji laboratoriów badawczych i wzorcujących.
• [6] EA-4/02. Expression of the Uncertainty of Measurement in Calibration. European co-opcraiion for Accreditation. December 1999.
• [7] Kłos Z., Madej P.: Analogowe metody pomiaru wielkich rezystancji. Normalizacja 1993, nr 3, s. 23.
• [8] Kłos Z., Madej P.: Elektroniczny megaomomierz analogowy typ EMA-l. PAK 1994, nr 1, s. 3.
• [9] Zarządzenie Prezesa Głównego Urzędu Miar nr 18 z dnia 11 lipca 2000 r. w sprawie wprowadzenia przepisów metrologicznych o miernikach oporu izolacji. Dz. Urz. Miar i Probierniictwa 2000, nr 4, s. 149.
• [10] Kłos Z.: Własności wysokoomowych rezystorów kompozytowych. Normalizacja 1992, nr 9, s. 17.
• [11] Kłos Z.: Własności wysokoomowych rezystorów tlenkowych typu MOX. Normalizacja 1992, nr 12, s. 13.
• [12] Kłos Z.: Wvsokoomowe dekadowe wzorce do testowania mierników wielkich rezystancji metodą bezpośrednią. Metrologia i Probiernictwo 1997, nr 2, s. 12.
• [13] ZELAP Zakład Elektronicznej Aparatury Pomiarowej Jerzy Jaskulski: Oporniki dekadowe wysokoomowe typu OD-I-W i OD-2-W. Karta katalogowa.
• [14] IET LABS Inc.: High resistance decade substitute HRRS-B-3-1G series.
• [15] GUILD LINE INSRUMENTS Ltd.: High value resistance standards 9336 series, and ultra high value resistance standards 9337 series.
• [16] Kłos Z., Madej P.: Wzorcowanie megaomomierzy analogowych metodą kalibracji bloków funkcjonalnych. Normalizacja 1993, nr 4, s. 13.
• [17] Kros Z., Madej P.: Sprawdzanie wskazań megaomomierza elektronicznego metodą stopniowania. Normalizacja 1993, nr 11-12, s. 22.

Uwagi

PL

Praca powstała w ramach projektu badawczego nr 8 T10A 0 54 21 finansowanego przez Komitet Badań Naukowych