Metody wzorcowania analogowych mierników bardzo dużych rezystancji. Część I: Metoda bezpośrednia.

• Autorzy: Lisowski M.

Warianty tytułu

EN

Methods of Calibrations of Analouge High Resitance Meters - Part I

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule opisano metody wzorcowania mierników bardzo dużych rezystancji, działających na zasadzie pomiaru prądu przepływającego przez mierzony rezystor przy znanym napięciu źródła. W części I przedstawiono wymagania przepisów i norm oraz metodę bezpośrednią i jej ograniczenia.

EN

Methods of calibration of high resistance meters, working on a measurment of the cureent flowing by the measured resistor with the knowh voltage source have been described in the paper. In the I part there are presented regulations demands and norms and also direct method and its limitations.

Słowa kluczowe

PL

mierniki analogowe; rezystancja

EN

Analouge High Resistance

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2003
• Tom: R. 49, nr 6
• Strony: 10--14
• Opis fizyczny: Bibilogr. 17 poz., rys., wykr.,

Twórcy

autor

Lisowski M.

• Instytut Elektrotechiki, Oddział Technologii i materiałoznastwa Elektrotechnicznego we Wrocławiu

Bibliografia

• [1 ] PN-EN 60051-9:2000 Elektryczne przyrządy pomiarowe wskazujące analogowe o działaniu bezpośrednim i ich przybory. Zalecane metody badań.
• [2] PN-EN 60051 -1:2000 Elektryczne przyrządy pomiarowe wskazujące analogowe o działaniu bezpośrednim i ich przybory. Definicje i wymagania wspólne dla wszystkich arkuszy normy.
• [3] PN-EN 60051 -6:2000 Elektryczne przyrządy pomiarowe wskazujące analogowe o działaniu bezpośrednim i ich przybory. Wymagania specjalne dotyczące omomierzy (mierników impedancji) i mierników przewodności.
• [4] Zarządzenie Prezesa Głównego Urzędu Miar I dnia 11 lipca 2000 r. nr 19 w sprawie wprowadzenia instrukcji sprawdzania mierników oporu izolacji. Dz. Urz. Miar i Probiernictwa 2000, nr 4, s. 152.
• [5] PN-EN-ISO/IEC 17025: 2001 Ogólne wymagania dotyczące kompetencji laboratoriów badawczych i wzorcujących.
• [6] EA-4/02. Expression of the Uncertainty of Measurement in Calibration. European co-opcraiion for Accreditation. December 1999.
• [7] Kłos Z., Madej P.: Analogowe metody pomiaru wielkich rezystancji. Normalizacja 1993, nr 3, s. 23.
• [8] Kłos Z., Madej P.: Elektroniczny megaomomierz analogowy typ EMA-l. PAK 1994, nr 1, s. 3.
• [9] Zarządzenie Prezesa Głównego Urzędu Miar nr 18 z dnia 11 lipca 2000 r. w sprawie wprowadzenia przepisów metrologicznych o miernikach oporu izolacji. Dz. Urz. Miar i Probierniictwa 2000, nr 4, s. 149.
• [10] Kłos Z.: Własności wysokoomowych rezystorów kompozytowych. Normalizacja 1992, nr 9, s. 17.
• [11] Kłos Z.: Własności wysokoomowych rezystorów tlenkowych typu MOX. Normalizacja 1992, nr 12, s. 13.
• [12] Kłos Z.: Wvsokoomowe dekadowe wzorce do testowania mierników wielkich rezystancji metodą bezpośrednią. Metrologia i Probiernictwo 1997, nr 2, s. 12.
• [13] ZELAP Zakład Elektronicznej Aparatury Pomiarowej Jerzy Jaskulski: Oporniki dekadowe wysokoomowe typu OD-I-W i OD-2-W. Karta katalogowa.
• [14] IET LABS Inc.: High resistance decade substitute HRRS-B-3-1G series.
• [15] GUILD LINE INSRUMENTS Ltd.: High value resistance standards 9336 series, and ultra high value resistance standards 9337 series.
• [16] Kłos Z., Madej P.: Wzorcowanie megaomomierzy analogowych metodą kalibracji bloków funkcjonalnych. Normalizacja 1993, nr 4, s. 13.
• [17] Kros Z., Madej P.: Sprawdzanie wskazań megaomomierza elektronicznego metodą stopniowania. Normalizacja 1993, nr 11-12, s. 22.

Uwagi

PL

Praca powstała w ramach projektu badawczego nr 8 T10A 0 54 21 finansowanego przez Komitet Badań Naukowych