Zastosowanie termowizji w badaniach nieniszczących i w mikroelektronice

• Autorzy: Więcek B. , Lis M. , Zwolenik S. , Danych R. , Wajman T.

Warianty tytułu

EN

Application of Thermography in Non Destructive Testing and microelectronics

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W niniejszym artykule przedstawiono podstawowe zagadnienia jakimi zajmuje się Zespół Termografii Komputerowej Instytutu Elektroniki PŁ. Ponieważ zastosowania termowizji są bardzo ogromne i rosną, dlatego autorzy wybrali następujące zagadnienia, które są obecnie realizowane: projektowanie interfejsów do kamer termowizyjnych i integracja systemów, projektowanie radiatorów układów scalonych VLSI, wykorzystanie własności dynamicznych rur cieplnych w chłodzeniu układów elektronicznych. Przedstawione zostały również nowe zagadnienia, którymi zajmuje się zespół, takie jak badania nieniszczące z wykorzystaniem fali cieplnej jak również chłodzenie układów elektronicznych z wykorzystaniem pompy kapilarnej.

EN

In this article, an overview of thermography applications developed in the Institute of Electronics, Technical University of Lodz are presented. The growing interest of thermography in various field of applications is observed. In the domain of scientific investigations, thermography is successfully applied for modelling cooling systems in microelectronics, including phase change solutions. Additionally, dynamic thermography is widely used in non destructive testing in material science. Thermal wave method and pulse thermography are applied.

Słowa kluczowe

PL

termowizja; badania nieniszczące; mikroelektronika

EN

nondestructive testing; thermography; microelectronics

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2002
• Tom: R. 48, nr 11
• Strony: 8--12
• Opis fizyczny: fot., rys.

Twórcy

autor

Więcek B.

• Politechnika Łódzka, Instytut Elektroniki, Zespół Termografii Komputerowej

autor

Lis M.

• Politechnika Łódzka, Instytut Elektroniki, Zespół Termografii Komputerowej

autor

Zwolenik S.

• Politechnika Łódzka, Instytut Elektroniki, Zespół Termografii Komputerowej

autor

Danych R.

• Politechnika Łódzka, Instytut Elektroniki, Zespół Termografii Komputerowej

autor

Wajman T.

• Politechnika Łódzka, Instytut Elektroniki, Zespół Termografii Komputerowej