PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Badania przebiegu quasi-stałego napięcia elektrycznego w funkcji czasu wprocedurze wzorcowania źródła opartego na diodach Zenera

Autorzy
Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Testing of voltage versus time function in the procedure of the Zener diode-based standard calibration
Konferencja
Konferencja Naukowa "Systemy Pomiarowe w Badaniach Naukowych i w Przemyśle SP`02" (4; 2002; Zielona Góra; Polska)
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W pracy opisano wielkości charakteryzujące przebieg napięcia elektrycznego w funkcji czasu źródeł wykorzystujących diody Zenera oraz sposób wyznaczania tych wielkości. Przeprowadzona analiza pozwala na wybór kryterium i metody szacowania niepewności metodą statystyczną w procedurze wzorcowania źródeł z diodami Zenera. Charakteryzują się one rozkładem napięcia w funkcji czasu pomiaru wskazującym na istnienie szumu typu 1/f o niskiej częstotliwości. Do analizy przebiegu napięcia wykorzystano odchylenie standardowe wartości średniej dla różnej liczby pomiarów i odchylenie Allana dla różnych przedziałów czasu próbkowania. Wyznaczono również rozkłady średnich wartości napięć w róznych przedziałach próbkowania w funkcji czasu pomiaru.
EN
The paper includes the quantities characterising the voltage versus time function of the Zener diode-based standard as well as the methods of calculation these quantities. An analysis presented in the paper enables to choose of the method of the estimation of uncertainty by statistical way. Zener diode-based standard is characterised by the measured voltage vs. time function indicating the existence of the low frequency noise type 1/f. The Allan deviation was used as the best quantity for uncertainty estimate of Zener standards.
Wydawca
Rocznik
Strony
97--100
Opis fizyczny
Bibliogr. 4 poz., rys., tab., wzory m
Twórcy
autor
  • Główny Urząd Miar, Warszawa
Bibliografia
  • 1. New International Electrical Reference Standards Based on the Josephson and Quantum Hall Effects. B. N. Taylor and T. J. Witt, Metrologia 26, (1989), pages 47-62.
  • 2. Operation of NIST Josephson Array Voltage Standards. C. A. Hamilton et al. Journal of Researches of the National Institute of Standards and Technology, vol. 95, pp. 219-235, June 1990.
  • 3. Using power spectra and Allan variances to characterise the noise of Zener-diode voltage standards. T. J. Witt and D. Reymann, IEE Proc. Sci. Meas. & Technol. Vol. 147, No 4, July 2000.
  • 4. Comparison of measurement values in the presence of low-frequency noise: minimum variance method. Helisto P., Seppa H., IEEE Trans. Instr. Meas., 2001, 50, 453-456.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BSW4-0002-0028
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.