Ocena niepewności wyników identyfikacji parametrycznej

• Autorzy: Gajda J. , Twardowski T.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono kryteria i metodę analizy błędów systemów pomiarowych, stosowanych w parametrycznej identyfikacji obiektów. Podstawą metody są badania symulacyjne prowadzone na modelach tych systemów. Proponowana metoda umożliwia również parametryczną optymalizację systemów pomiarowych, rozumianą jako minimalizację niepewności wyników identyfikacji w wielowymiarowej przestrzeni technicznych parametrów optymalizowanego systemu.

EN

The criteria and errors analysis method of the measuring systems applied in thr parametric identification are presented in the papaer. The method bases on the simulation tests conducted on thse system`s models. The proposed method allows also the parametric optimization of the measuring system, mined as a chosen quality criterion minimization in multididmensional space o f the technical parameters of optimized system.

Słowa kluczowe

PL

identyfikacja parametryczna; ocena niepewności wyników

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2002
• Tom: R. 48, nr 5/6
• Strony: 20--24
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., rys., wzory mat.

Twórcy

autor

Gajda J.

• Zakład Metrologii Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie

autor

Twardowski T.

• Zakład Metrologii Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie

• Zakład Metrologii Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie

Bibliografia

• [1] Eykhoff P.: „System Identification. Parameter and State Estimation", J. Wiley & Sons Ltd. 1974.
• [2] Gajda J.: „Optimal Identification of the Flotation Process", 16th IFIP Conference on Systems Modelling and Optimization, Compiegne, 1993.
• [3] Gajda J.: „Pakiet do symulacji przyrządów i systemów pomiarowych MISS-1", materiały sympozjum nt.: Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych, Krynica 1993.
• [4] Gajda J., Szyper M., Twardowski T.: „Pakiet do symulacji systemów pomiarowych i ich elementów MISS for Windows”. Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych, Krynica 1995.
• [5] Gajda J., Szyper M., Twardowski T.: „Pakiet do symulacji systemów pomiarowych oraz ich elementów - procedury optymalizacyjne”. I Krajowa Konferencja Użytkowników MATLAB-a, Kraków 1995.
• [6] Gajda J., Szyper M.: „oolbox'MISS for WINDOWS” - Software for Modelling and Simulation of the Measuring Systems and their Elements”, materiały konferencyjne 1st Polish - German Workshop: Innovation Through Mechatronics, March 1996, Pęcice, Poland.
• [7] Gajda J.: „Mierzałność modeli złożonych obiektów przemysłowych”. ZN AGH nr 1407, Kraków, 1991.
• [8] ”Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement”. ISO, 1993.
• [9] Twardowski T.: „Parametryczna i strukturalna optymalizacja systemów pomiarowych stosowanych w identyfikacji parametrycznej", rozprawa doktorska. Wydział ŚAIiE AGH, Kraków, 2000.
• [10] Fiedorów W. W.: „Teorija Optimalnowo Eksperimenta”. Wydawnictwo Nauka. Moskwa 1971
• [11] Gajda J., Twardowski T.: „Optimization of a real identification system”. XVI Światowy Kongres IMEKO, Wiedeń 2000