Modelowanie i badania symulacyjne elektronicznych przetworników pomiarowych za pomocą uniwersalnych programów analizy układów elektronicznych

• Autorzy: Sidor T.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Uniwersalne programy do symulacji układów elektronicznych mogą być z powodzeniem stosowane również do badań symulacyjnych własności metrologicznych elektronicznych przetworników pomiarowych. Do takich badań szczególnie przydatne są pewne dodatkowe opcje analiz dostepne w takich programach. W niniejszym artykule omówiono zarówno podstawowe jak i dodatkowe opcje analiz popularnych programów w aspekcie ich wykorzystywania do symulacji i optymalizacji różnych struktur elektronicznych przetworników pomiarowych oraz analizy ich własności metrologicznych. Programy te wykorzystywane są w Zakładzie Metrologii AGH zarówno w badaniach naukowych jak i w dydaktyce.

EN

Universal programs for computer analysis of electronic circuits can be successfully employed also for metrological analysis of electronic measuring transducers. For such analysis certain additional options of CAA programs are particulary useful. In this paper the basic and additional options of popular CAA programs are discused in context of using them for simulation and optimisation of diferent structures of measuring transducers and analysis of their metrological properties.

Słowa kluczowe

PL

modelowanie elektronicznych przetworników pomiarowych; badania symulacyjne elektronicznych przetworników pomiarowych; analiza układów elektronicznych

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2002
• Tom: R. 48, nr 5/6
• Strony: 13--14
• Opis fizyczny: Bibliogr. 15 poz., rys.

Twórcy

autor

Sidor T.

• Zakład Metrologii Akademii Górniczo-Hutnicza w Krakowie

Bibliografia

• [1]. R. L. Ramey, E. J. White: Zastosowanie macierzy w maszynowej analizie układów elektronicznych. P. W. N. Warszawa 1974.
• [2|. L. O. Chua, Pen Min Lin: Komputerowa analiza układów elektronicznych. W. N. T. Warszawa 1981.
• [3]. Tadeusz Sidor: Komputerowo wspomagana analiza i optymalizacja układu przetwornika termometru oporowego. R A. K. 11/1984
• [4]. Tadeusz Sidor Optymalizacja układu przetwornika pomiarowego ε,_R/f w oparciu o symulacje komputerową i weryfikujące badania laboratoryjne. Elektrotechnika A. G. H. 4/1984
• [5]. Tadeusz Sidor Komputerowe badania symulacyjne elektronicznych analogowvch przetworników pomiarowych. Zesz. Nauk. A. G. H. Elektrotechnika 6/1985
• [6]. Tadeusz Sidor: Mctrological analysis and optimisation of electronic transducers based on universal programs for CAA of electronic circuits. Measurement and Control Vol. 23, No 5. June 1990
• [7]. Tadeusz Sidor: Zastosowanie programów analizy układów elektronicz nych do badań svmulacvjnvch przetworników pomiarowych. Mat. Symp. MiSSP Krynica 1991
• [8]. Tadeusz Sidor Symulacyjna weryfikacja własności dynamicznych elektronicznych przetworników pomiarowych. Ż. N. Politechniki Śląskiej Nr 157/1997
• [9]. Tadeusz Sidor Badania svmulacvjne własności metrologicznych oscylatorów R-C. Mat. Symp. MiSSP Krynica 1997
• [10]. Tadeusz Sidor Modelling the Magnitude Control System in Linear R-C Oscillators. System Analysis Modelling and Simulation, Vol. 31,1998
• [11]. Tadeusz Sidor Badania symulacyjne własności metrologicznych superczułego modulatora fazy na bazie niezrównoważonego mostka prądu zmiennego. Mat. Symp. MiSSP Krynica 1998
• [12]. Tadeusz Sidor: Badania symulacyjne wierności odwzorowania charakterystyk częstotliwościowych wzmacniaczy operacyjnvch przez ich ma- kromodele. Mat. Symp. MiSSP Krynica 1999
• [13]. Tadeusz Sidor. Arkadiusz Zientara: Badanie symulacyjne wpływu tolerancji rezystorów na współczynnik CMRR w różnych strukturach wzmacniaczy pomiarowych. Mat. Symp. MiSSP Krynica 2000
• [14]. Tadeusz Sidor. Arkadiusz Zientara: Porównawcze badania wrażliwości elektronicznych przetworników pomiarowych na tolerancje podzespołów przy wykorzystaniu analizy Monte Carlo. P. A. K. 10/2001
• [15]. Symulacyjne badania zależności współczynnika CMRR od częstotliwości dla różnych struktur wzmacniaczy pomiarowych. Mat. Symp. MiSSP Krynica 2001