Badania wrażliwości systemów pomiarowych metodami symulacyjnymi

• Autorzy: Szyper M.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Wpublikacji przedstawiony został krótki przegląd zagadnień dotyczących badań wrażliwości systemów pomiarowych z zastosowaniem ich modeli symulacyjnych. Przedstawiono proponowane definicje wrażliwości i wybrane zastosowania badań wrażliwościowych oraz technikę wykonywania eksperymentów symulacyjnych. W przekonaniu autora badania takie mogą mieć istotne znaczenie dla analizy i syntezy systemów pomiarowych.

EN

The paper presents short reviev of the problems concerning the sensitivity analysis of the measuring systems. The proposed method basis on the simulation models of the tested equipment. The sensitivity definition, exemplary applications, as well as technique of the simulation tests are also presented. In authors opinion such tests have an essential meaning for analysis and design of the measuring systems.

Słowa kluczowe

PL

badania wrażliwości systemów pomiarowych; metody symulacyjne

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2002
• Tom: R. 48, nr 5/6
• Strony: 10--11
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., wzory mat.

Twórcy

autor

Szyper M.

• Zakład Metrologii Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie

Bibliografia

• [1] Janusz Gajda, Michał Szyper: Modelowanie i badania symulacyjne systemów pomiarowych. Wyd. Jartek s. c. Kraków 1998,
• [2] Krzysztof Maurin: Analiza. Wyd. PWN, Warszawa 1977.
• [3] Michał Szyper: Lipschitz s measures of measuring systems sensitivity to variability of parameters. Systems Analysis Modelline Simulation. Gordon and Breach Science Publishers, Amsterdam BV, Vol. 30, pp 45-55, 1998.
• [4] Janusz Gajda, Michał Szyper: Parametric optimisation of measuring systems according to the joint error criterion. IEEE Trans.Instr. and Meas., Vol. 46, N. 4, pp. 769-775, Aug. 1997