Planar irregularities of texture and stress field detected by X ray diffraction technique

• Autorzy: Tarkowski L. , Bonarski J. , Alexandrov I. V.

Warianty tytułu

PL

Planarna niejednorodność tekstury i pola naprężeń identyfikowana techniką dyfrakcji rentgenowskiej

• Konferencja: SOTAMA Symposium on Texture and Microstructure Analysis (2; 26-28.09.2007; Cracow, Poland)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Regardless of the origin of structure irregularities of materials, recognizing its spatial distribution in a sample or constructing elements is a great research problem. One of the most effective and non-destructive tools in this range is the X-ray diffraction technique assisted by appropriate experimental method and data processing. The work presents the results of investigations of planar distribution of crystallographic texture and stress irregularities manifested by changes of diffraction effects registered by X-ray technique. As an example, the introduced method is tested on titanium rod after severe plastic deformation process.

PL

ldentyfikacja przestrzennego rozkładu niejednorodności struktury materiału, bez względu na przyczyny ich powstania, stanowi istotny problem badawczy. Jednym z najbardziej efektywnych i nieniszczących narzędzi badawczych w tym zakresie jest technika dyfrakcji rentgenowskiej. W niniejszej pracy zaprezentowano wyniki badań rozkładu planarnego tekstury krystalograficznej i naprężeń własnych przejawiających się w zmianie charakterystyki odbić dyfrakcyjnych. Wprowadzona metoda topografii tekstury i naprężeń własnych została przetestowana na prętach tytanu poddanych silnemu odkształceniu plastycznemu.

Słowa kluczowe

EN

titanium; X-ray diffraction; crystallographic texture; residual stresses

PL

tytan; dyfrakcja rentgenowska; tekstura krystaliczna

• Wydawca: Institute of Metallurgy and Materials Science of Polish Academy of Sciences ; Committee of Materials Engineering and Metallurgy of Polish Academy of Sciences
• Czasopismo: Archives of Metallurgy and Materials
• Rocznik: 2008
• Tom: Vol. 53, iss. 1
• Strony: 243--246
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys.

Twórcy

autor

Tarkowski L.

autor

Bonarski J.

autor

Alexandrov I. V.

• INSTITUTE OF METALLURGY AND MATERIALS SCIENCE, POLISH ACADEMY OF SCIENCES, 30-059 KRAKOW, 25 REYMONTA STR., POLAND

Bibliografia

• [1] R. A. Schwarzer, Micron 28, 249 (1997).
• [2] J. Bonarski, DAMfit, Computer programme, Krakow, IMIM PAN (2005).
• [3] L. Tarkowski, Raw2Rrd, Computer programme, Krakow, IMIM PAN (2006).
• [4] LaboTex. The texture analysis software by LaboSoft sc. (2000).
• [5] I. V. Alexandrov, M. V. Zhilina, J. T. Bonarski, Bulletin of Polish Academy of Sciences, Technical Sciences 54, 2 (2006).
• [6] A. Baczmański, Stress field in polycrystalline materials studied using diffraction and self consistent modelling, AGH Krak6w (2005).
• [7] L. Tarkowski, Ph. D. Thesis, Institute of Metallurgy and Materiale Science of the Polish Academy of Sciences, Krakow (2007).