Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Identyfikacja faz metodą dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych - nowe możliwości w badaniach materiałów
Konferencja
SOTAMA Symposium on Texture and Microstructure Analysis (2; 26-28.09.2007; Cracow, Poland)
Języki publikacji
Abstrakty
The examples of EBSD analysis of selected phases in steel are presented in this paper. The carbon steel, Co-Cr-Mo alloy and steel after termochemical treatment were examined. The obtained results confirm that the EBSD method can be a valuable tool used for recessive analysis of phases which occure in alloys with giving particular attention to theirs polymorphism and non stechiometry. It allows examining samples both as metallographic cross-section and fracturing as well as samples after surface treatment.
W artykule przedstawiono przykładowe możliwości analizy składu fazowego materiałów. Badania wykonano na stopie Co-Cr-Mo, przełomie stali węglowej oraz stali po obróbce cieplnochemicznej. Z przytoczonych badań wynika, że dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych może być cennym narzędziem służącym do precyzyjnej identyfikacji faz występujących w stopach z uwzględnienicm ich niestechiometryczności i polimorfizmu. Istnieje możliwość badan zarówno na zgładach nietalograficznych , powierzchniach po obróbkach cieplnochemicznych oraz przełomach.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
151--155
Opis fizyczny
Bibliogr. 8 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
- INSTITUTE OF MATERIALS ENGINEERING, LODZ UNIVERSITY OF TECHNOLOGY, 90-924 LODZ, I STEFANOWSKIEGO STR., POLAND
Bibliografia
- [1] P. Kula, Inżynieria warstwy wierzchniej. Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej. Monografie (2000).
- [2] S. Kikuchi, Diffraction of cathode rays by mica. Jap. J. Phys. 5, 83 (1928).
- [3] A. J. Schwartz, M. Kumar, B. L. Adams, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science. Kluwer Academic/plenum Publishers 233 Spring Street, New York, N.Y.10013.
- [4] J. F. Michael, R. P. Goehner, Crystallographic phase identification in the scanning electron microscope backscattered electron Kikuchi patterns ima ged with a CCD based detector. MSA bulletin 23-168, 1993.
- [5] Materiały informacyjne firm: EDAX, NORAN, OXFORD.
- [6] L. Klimek, P. Kula, K. Jakubowski, Metodyczne aspekty identyfikacji faz metodą dyfrakcji elektronów wstecznic rozproszonych Polska Metalurgia w latach 1998-2002 Komitet Metalurgii Polskiej Akademii Nauk Wydawnictwo Naukowe "AKAPIT" 2, 418-424, Krakow 2002.
- [7] Z. Haś , Patent nr 072531.
- [8] A. Rzepkowski, Analysis of surface hardening of 17-4PH steel by means of gas nitriding with preliminary activated surface. PhD thesis Lodz 2007.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BSW3-0046-0024