A fast ACOM/EBSD system

• Autorzy: Schwarzer R.

Warianty tytułu

PL

Szybki system ACOM/EBSD

• Konferencja: SOTAMA Symposium on Texture and Microstructure Analysis (2; 26-28.09.2007; Cracow, Poland)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Automated backscatter Kikuchi diffraction in the scanning electron microscope allows the microstructure, crystallography and texture of polycrystalline solids to be characterized on the sub-grain size level. It is about to become a tool for process and quality control. Mandatory requirements for these applications are a high speed and measures to enable re-examination of the results at any time. Separate acquisition and store of sequences of diffraction patterns in a raw data format, followed by off-line calculation of the grain orientations, has distinct advantages over conventional on-line EBSD analysis. Aspects of hardware and software for realizing a fast ACOM/EBSD system are discussed.

PL

Automatyzowana rejestracja dyfrakcji Kikuchiego promieni zwrotnych w elektronowym mikroskopie skaninhowym pozwala na scharakteryzowanie mikrostruktury, krystalografię i teksturę polikrystalicznych ciał stalłch w skali rozmiaru subziaren. Technika to staje się narzędziem kontroli procesów i jakości. Obowiązującą normą dla tych zastosowań to duża szybkość oraz możliwość rewizji wyników w dowolnym czasie. Rozdzielenie akwizycji i przechowania sekwencji dyfraktograrnów w formie danych pierwotnych w połączeniu z obliczeniami off-line orientacji ziarn posiada wyraźną przewagę nad konwencjonalną EBSD analizą on-line. Dyskutowane są aspekty hardwarowe oraz softwarowe dla realizacji szybkiego systemu ACOM/EBSD.

Słowa kluczowe

EN

ACOM; BKD; EBSD; crystallographic texture; Kikuchi patterns; radon transform; image processing

PL

ACOM; BKD; EBSD; tekstura krystaliczna; dyfrakcja Kikuchiego; radon; przetwarzanie obrazów

• Wydawca: Institute of Metallurgy and Materials Science of Polish Academy of Sciences ; Committee of Materials Engineering and Metallurgy of Polish Academy of Sciences
• Czasopismo: Archives of Metallurgy and Materials
• Rocznik: 2008
• Tom: Vol. 53, iss. 1
• Strony: 5--10
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys.

Twórcy

autor

Schwarzer R.

• KAPPSTR. 65, D-71083 HERRENBERG, GERMANY

Bibliografia

• [1] A. Schwartz, M. Kumar, B.L. Adams (Eds.),Electron Backscatter Diffraction in Materials Science, Kluwer Academic / Plenum Publishers, 2000, ISBN: 0-06-46487-X.
• [2] R. A. Schwarzer, Automated grain orientation measurement by backscatter Kikuchi diffraction, The Physics of Metals and Metallo graphy 96 Suppl. 1, S104-S115 (2003).
• [3] Jade Hjelen AS, N-7079 Flatfsen, Trondheim, Norway.
• [4] D. Gerth, R. A. Schwarzer, Graphical representation of grain and illock orientations in annealed Al-1%Si films, Textures and Microstructures 21, 177-193 (1993).
• [5] N. C. Krieger-Lassen, D. Juul-Jensen, K. Conradse n, Image processing procedures for analysis of electron hackscattering patterns, Scanning Microscopy 6, 115-121 (1992).
• [6] R. A. Schwarzer, J. Sukkau, Automated Evaluation of Kikuchi Patterns by Means of Radon and Fast Fourier Transformations, and Verification by an Artificial Neural Network, Advanced Engineering Materials 5, 601-606 (2003).
• [7] Technical brochure Nordlys F 400, September 2007, Oxford Instruments NanoAnalysis, High Wycombe, England.