Determination of crystallite orientations using TEM. Examples of measurements

• Autorzy: Sztwiertnia K. , Bieda M. , Sawina G.

Warianty tytułu

PL

Wyznaczanie orientacji krystalitów w TEM. Przykłady pomiarów

• Konferencja: MicroCEM - Workshop on Progress in Microstructure Characterization by Electron Microscopy (30.09-02.10.2005 ; Zakopane, Polska)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Determination of topography of crystallite orientations becomes important technique of investigation of polycrystalline materials. Electron back- scattered diffraction (EBSD) in scanning electron microscopy (SEM) is already extensively used for creating orientations maps. Recently, transmission Kikuchi patterns (TKP) as well as convergent beam electron diffraction patterns (CBED) in transmission electron microscope (TEM) have been applied for creating such maps. The paper presents exemplary results of measurements of local crystallographic orientations in highly cold- rolled aluminium as well as in aluminium alloy 6013. For determination of crystallite orientations the software EP, developed by Morawiec, Funderberger, Bouzy and Lecomte [1–5], was used. The TKP and CBED patterns for EP were obtained by scanning of conventional photographic plates from TEM

PL

Wyznaczanie topografii orientacji krystalograficznych stało się ważną techniką badania materiałów polikrystalicznych. Do tworzenia map orientacji wykorzystuje się powszechnie technikę wykorzystującą dyfrakcje elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) w skaningowych mikroskopach elektronowych. Ostatnio do tworzenia tego typu map zastosowano obrazy dyfrakcyjne Kikuchiego (TKP) oraz obrazy dyfrakcyjne uzyskane przy użyciu wiązki zbieżnej (CBED) w transmisyjnym mikroskopie elektronowym (TEM). W pracy przedstawiono przykładowo wyniki pomiaru lokalnych orientacji krystalograficznych w walcowanych na zimno do wysokich stopni zgniotu czystym aluminium i stopie aluminium 6013. Dla określenia orientacji krystalitów wykorzystano program opracowany przez Morawca, Funderberger‘a, Bouzy‘iego i Lecomte‘a [1–5]. Obrazy TKP lub CBED dla EP ze zdefiniowanych miejsc próbki zostały otrzymane przez skanowanie konwencjonalnych klisz fotograficznych z TEM.

Słowa kluczowe

EN

crystallographic orientation; TEM; EBSD

PL

orientacja krystalograficzna; TEM; EBSD

• Wydawca: Institute of Metallurgy and Materials Science of Polish Academy of Sciences ; Committee of Materials Engineering and Metallurgy of Polish Academy of Sciences
• Czasopismo: Archives of Metallurgy and Materials
• Rocznik: 2006
• Tom: Vol. 51, iss. 1
• Strony: 55--62
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., rys. kolor., tab.

Twórcy

autor

Sztwiertnia K.

autor

Bieda M.

autor

Sawina G.

• Institute of Metallurgy and Materials Science, Polish Academy of Sciences, 30-059 Kraków, 25 Reymonta St., Poland

Bibliografia

• [1] A. Morawiec, J.J. Fundenberger, E. Bouzy& J.S. LecomteJ. Appl. Cryst. 35, 287 (2002).
• [2] J. J. Fundenberger, A. Morawiec, E. Bouzy, J. S. Lecomte, Mater. Chem. Phys. 81, 535 (2003).
• [3] J. J. Fundenberger,A. Morawiec,E. Bouzy & J. S. Lecomte, Ultramicroscopy 96, 127 (2003).
• [4] A. Morawiec, J. Appl. Cryst. 32, 788 (1999).
• [5] E-mail : [e-mail] Web , http://www.letam.sciences.univ-metz.fr
• [6] J. Pospiech, K. Lucke, K. Sztwiertnia, Acta metali, mater. 41, 305 (1993).
• [7] R.A. Schwarzer, Ultramicroscopy 67, 19 (1997).
• [8] K. Sztwiertnia, F. Haessner, Mater. Sci. Forum 157-162, 1069 (1994).
• [9] K. Sztwiertnia, Mater. Sci. Forum 426 -432, 3721 (2003).
• [10] K. Sztwiertnia, J. Morgiel, E. Bouzy, Archives of Metali., 50, 119-130 (2005).
• [11] J. Hansen, J. Pospiech, K. Lucke, Tables for Texture Analysis of Cubic Crystals, Springer-Yerlag 1978.
• [12] K. Sztwiertnia, J. Pospiech, F. Haessner, Texture Microstruct. 12, 233 (1990).