Rapid spot diffraction patterns idendification through template matching

• Autorzy: Rauch E. F. , Dupuy L.

Warianty tytułu

PL

Szybka identyfikacja dyfrakcyjnych obrazów punktowych za pomocą dobieranego szablonu

• Konferencja: Symposium on Texture and Microstructure Analysis of Functionally Graded Materials SOTAMA-FGM (October 3-7, 2004 ; Kraków, Poland)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper proposes a rapid method for diffraction patterns identification. it consists in comparing the acquired digital image of the spot pattern to a set of previously calculated templates. Image matching techniques are used to select the template with the highest correlation index. The procedure is used to measure automatically the microtexture of crystalline metallic materials.

PL

W pracy przedstawiono szybką metodę identyfikacji obrazu dyfrakcyjnego. Polega ona na porównaniu uzyskanego obrazu cyfrowego dyfrakcji ze zbiorem wcześniej obliczonych obrazów dyfrakcyjnych. Jako metodę wyboru zastosowano technikę kajarzenia obrazów o największym współczynniku korelacji. Zaproponowaną procedurę użyto do automatycznego pomiaru mikrotekstury metalicznych materiałów krystalicznych.

Słowa kluczowe

EN

microtexture; diffraction patterns identification

PL

mikrotekstura; identyfikacja obrazu dyfrakcyjnego

• Wydawca: Institute of Metallurgy and Materials Science of Polish Academy of Sciences ; Committee of Materials Engineering and Metallurgy of Polish Academy of Sciences
• Czasopismo: Archives of Metallurgy and Materials
• Rocznik: 2005
• Tom: Vol. 50, iss. 1
• Strony: 87--99
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys. kolor.

Twórcy

autor

Rauch E. F.

• Genie Physique et Mechanique des Materiaux (CNRS-UMR5010) - INPG, B.P. 46, 38402 Saint Martin D'Heres Cedex France

autor

Dupuy L.

• Lawrance Livermore National Laboratory, L415, Livermore, CA 94550, USA

Bibliografia

• [1] D. Dingley, J. of Microscopy 213/3, 214-224 (2004).
• [2] R. A. Schwarzer, Textures and Microstructures 13, 15-30 (1990).
• [3] S. Zaefferer, R. A. Schwarzer, Z. Metallkunde 85, 585-591 (1994).
• [4] R. A. Schwarze, J. Sukkau, Mater. Sei. Forum 273-275, 215-222 (1998).
• [5] A. Morawiec, J. Appl. Cryst. 32, 788-798 (1999).
• [6] S. Zaefferer, J. Appl. Cryst. 33, 10 (2000).
• [7] J.-J. Fundenberger, A. Morawiec, E. Bouzy, J. S. Lecomte, Ultramicroscopy 96, 127-137 (2003).
• [8] L. Dupuy, E. F. Rauch, J. J. Blandin, 'Texture, Structural Evolution And Mechanical Properties In AA5083 Processed By Ecae in Investigations and Applications of Severe Plastic Deformation, T. C. Lowe and R.Z. Valiev (eds), Kluwer Academic Publishers, 189-195 Netherlands, (2000).
• [9] W. K. Pratt, Digital Image Processing, Wiley, New York, 1978.
• [10] A. Rosenfeld, A. C. Kak. Digital Picture Processing, Computer Science and Applied Mathematics, Academic Press, New York, 1976.