Advances in the Analysis of Texture and Microstructure

• Autorzy: Schwarzer R.

Warianty tytułu

PL

Postęp w analizie tekstury i mikrostruktury

• Konferencja: Symposium on Texture and Microstructure Analysis of Functionally Graded Materials SOTAMA-FGM (October 3-7, 2004 ; Kraków, Poland)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The past decade has seen some remarkable progress in texture analysis. There is no universal method, and the choice depends on the sampled grain structure as well as on the degree of required information. The standard technique for the analysis of global texture is X-ray pole figure measurement and ODF calculation. A significant improvement in speed and accuracy has been achieved by using a two-dimensional area detector. An extension to local texture measurement has been made by developing an X-ray scanning instrument. X-ray diraction is a gentle method which is well suited for conductive, recrystallized and flat bulk as well as delicate, non-conductive, deformed, and fine-grain specimens. Local texture of extremely deformed or fine-grain materials can be studied by SAD and RHEED pole- figure measurement in the TEM. Texture analysis on a grain-specific scale is performed by automated Kikuchi diraction (ACOM) in the SEM (“Automated EBSD”) and TEM. TEM investigations are indispensable when microstructural features have to be quantified such as Burgers vectors and deformation systems.

PL

W minionej dekadzie nastapił zdecydowany postep w analizie tekstury, ale jak dotad brakuje uniwersalnej metody. Wybór metody badawczej zalezy od struktury ziaren próbki oraz od rodzaju oczekiwanych informacji. Standardowa technika analizy tekstury globalnej jest pomiar figur biegunowych technika dyfrakcji rentgenowskiej oraz obliczenia FRO. Znaczna poprawe szybkosci i dokładnosci analizy osiagnieto poprzez zastosowanie 2-wymiarowego detektora powierzchniowego. Rozszerzenie metody o pomiar tekstury lokalnej uzskano poprzez rozwój skanujacej aparatury rentgenowskiej. Dyfrakcja rentgenowska jest nieniszczaca metoda, która jest stosunkowo łatwa do zastosowania w przypadku płaskich próbek zrekrystalizowanych, nieprzewodzacych elektrycznosci, odkształconych oraz drobnoziarnistych. Tekstura lokalna materiału silnie odkształconego lub drobnoziarnistego może być badana poprzez pomiary figur biegunowych SAD oraz RHEED w TEM. Analiza tekstury w skali poszczególnych ziaren jest przeprowadzana poprzez zautomatyzowany pomiar dyfrakcji Kikuchi (ACOM) w SEM (zautomatyzowany EBSD) i TEM. Badania TEM sa niezastapione wtedy, gdy mikrostruktura musi byc scharakteryzowana takimi wielkosciami jak wektor Burgersa czy systemy deformacji.

Słowa kluczowe

EN

crystal texture; Kikuchi patterns; BKD; EBSD; SAD; pole-figure measurement; XRD; energy dispersive XRD

PL

tekstura krystaliczna; dyfrakcja rentgenowska; pomiar figur biegunowych; SAD; BKD; EBSD

• Wydawca: Institute of Metallurgy and Materials Science of Polish Academy of Sciences ; Committee of Materials Engineering and Metallurgy of Polish Academy of Sciences
• Czasopismo: Archives of Metallurgy and Materials
• Rocznik: 2005
• Tom: Vol. 50, iss. 1
• Strony: 7--20
• Opis fizyczny: Bibliogr. 31 poz., rys.

Twórcy

autor

Schwarzer R.

• Institut fur Physik, TU Clausthal, D-38678 Clausthal-Z., Germany

Bibliografia

• [1] H. J. Bunge, C. Esting, Texture et Anisotropie des Matériaux, Techniques de L'Ingénieur, Traité Matériaux Métalliques M 605, 1-39, Paris 1998.
• [2] R. A. Schwarzer, Materials Science Forum, 287-288, 23-60 (1998).
• [3] H. Bunge, H. K1 e i n, Z. Metallkunde 87, 465-475 (1996).
• [4] B. Schäfer, Materials Science Forum 273-275, 113-118 (1998).
• [5] K. Helming, U. Preckwinkel, Solid State Phenomena 105, 71-76 (2005).
• [6] H.-J. Bunge, Texture Analysis in Materials Science - Mathematical Methods. Butterworths, London 1982 (Reprint: Cuvillier Verlag, Göttingen 1993)
• [7] A. K. Singh, R. A. Schwarzer, Z. Metallkunde submitted for publication.
• [8] R. A. Schwarzer, Solid State Phenomena 105, 195-200 (2005).
• [9] R. A. Schwarzer, Steel Research 64, 570-574 (1993).
• [10] R. A. Schwarzer, M. Wehrhahn, Proc. 1 Ith Intern. Conf. Textures and Microstruetures, Xi'an (China) 176-181 (1996).
• [11] A. H. Fischer, R. A. Schwarzer, Materials Science Forum 273- 275, 255-262 (1998).
• [12] A. H. Fischer, R. A. Schwarzer, Materials Science Forum 273-275, 673-677 (1998).
• [13] F. J. Humphreys, Textures and Microstructures 6, 45-62 (1983).
• [14] R. Schwarzer, Beitr. elektronenmikroskop. Direktabb. Oberfl. (BEDO) 18, 61-68 (1985).
• [15] H. Weiland, S. Panchanadeeswaran, Textures and Microstructures 20,67-86 (1993).
• [16] R. A. Schwarzer, N. C. Krieger Lassen, B. Schäfer, Proc. 1 Ith Intern. Conf. Textures of Materials (ICOTOM-11), Xi'an (China) 170-175 (1996).
• [17] B. Schäfer, R. A. Schwarzer, Materials Science Forum 273- 275,223-228 (1998).
• [18] R. Schwarzer, BEDO 16, 131-134 (1983).
• [19] R. A. Schwarzer, Proc.EUREM 88, York 1988,Inst. Phys. Conf. Ser. No. 93/2,23-24 (1988).
• [20] A. Huot, R. A. Schwarzer, J. H. Driver, Materials Science Forum 273-275, 319-326 (1998).
• [21] R. A. Schwarzer, Micron 28, 249-265 (1997).
• [22] R. A. Schwarzer, The Physics of Metals and Metallography 96, Suppl. 1, 104-115 (2003).
• [23] R. A. Schwarzer, Microscopy and Microanalysis 5, Suppl. 2, 242-243 (1999).
• [24] S. Zaefferer, R. A. Schwarzer, Z. Metallkunde 85, 585-591 (1994).
• [25] R. A. Schwarzer, J. Sukkau. Adv. Engin. Materials 5, 601-606 (2003).
• [26] R. A. Schwarzer, J. Sukkau, Materials Science Forum 273-275, 215-222 (1998).
• [27] S. Zaefferer, Adv. Imaging and Electron Physics 125, 355-414 (2002).
• [28] D. Gerth,R. A. Schwarzer. Textures and Microstructures 21, 177- 193 (1993).
• [29] R. A. Schwarzer, Analytical and Bioanalytical Chemistry (ABC) 374,699-702 (2002).
• [30] H. J. Bunge, R. A. Schwarzer, Adv. Engin. Materials 3, 25-39 (2001).
• [31] A. Huot, A. H. Fischer, A. von Glasow, R. A. Schwarzer, Proc. 5th Intern. Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization, AIP Conference Proceeding 491, 261-264 (1999).