A quantitative description of crystallization of AlY amorphous alloy

• Autorzy: Wejrzanowski T. , Zieliński W. , Latuch J. , Kurzydłowski K. J.

Warianty tytułu

PL

Aanaliza ilościowa krystalizacji amorficznego stopu AlY

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Transmission Electron Microscopy is an essential technique for imaging the microstructures at the nanometer scale. However, quantitative analysis of such images is not easy due to the nature of TEM contrast based on diffraction phenomena. A quantitative description of the microstructure of melt-spun AlY ribbons has been carried out in the present work. TEM observations have revelated randomly distributed and oriented spherical nanometer crystals. In order to describe quantitatively their size and shape, images under different diffraction conditions were recorded. These images have been analyzed using software for image analysis. the data have been compared to the results obtained by other techniques, such as X-ray diffractometry and differential scanning calorimetry.

PL

Transmisyjna Mikriskopia Elektronowa jest podstawową techniką obrazowania mikrostruktury materiałów w skali nanometrycznej. Jednakże analiza ilosciowa obrazów jest trudna ze względu na naturę kontrastu mikroskopowego opierającego się na zjawisku dyfrakcji elektronów w sieci krystalicznej materiału. W niniejszej pracy przedstawione są wyniki analizy ilościowej mikrostruktury stopu AlY w postaci taśmy otrzymanej na drodze przechodzenia ze stanu ciekłego. Obserwacje przeprowadzone za pomocą transmisyjnego mikroskopu elektronowego ujawniły przypadkowo rozmieszczone i zorientowane kryształy o wymiarach nanometrycznych. w celu ich ilościowego opisu zarejestrowano obrazy mikrostruktury przy różnych orientacjach preparatu wzgledem wiązki elektronów. Analizę obrazów przeprowadzono za pomocą programu komputerowego. Wyniki przeprowadzonych pomiarów porównano z wynikami otrzymanymi za pomoca dyfraktometru rengenowskiego oraz kalorymetru różnicowego.

Słowa kluczowe

EN

nanocrystallization; TEM; quantitative DTA

PL

krystalografia; TME; analiza ilościowa

• Wydawca: Wydawnictwo Naukowe PWN SA
• Czasopismo: Archives of Metallurgy
• Rocznik: 2003
• Tom: Vol. 48, iss. 1
• Strony: 3--9
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Wejrzanowski T.

• Wydział Inżynierii Materiałowej, Politechnika Warszawska, 02-507 Warszawa, ul. Wołowska 141

autor

Zieliński W.

• Wydział Inżynierii Materiałowej, Politechnika Warszawska, 02-507 Warszawa, ul. Wołowska 141

autor

Latuch J.

• Wydział Inżynierii Materiałowej, Politechnika Warszawska, 02-507 Warszawa, ul. Wołowska 141

autor

Kurzydłowski K. J.

• Wydział Inżynierii Materiałowej, Politechnika Warszawska, 02-507 Warszawa, ul. Wołowska 141

Bibliografia

• [1] A. Inoue, Prog. Mater. Sci. 43, 365 (1998).
• [2] A. Inoue, M. Yamamoto, H. M. Kimura, T. Masumoto, J. Mater. Sci. Lett. 6, 194 (1987).
• [3] Y. H. Kim, A. Inoue, T. Masumoto, Mater. Trans. JIM 31, 747 (1990).
• [4] Z. C. Zhong, A. L. Greer, Int. J. Non-Equilibrium Process 11, 35 (1998).
• [5] J. Latuch, A. Kokoszkiewicz, H. Matyja, Mat. Sci. Eng. A 226-228, 809 (1997).
• [6] A. Inoue, H. Tomioka, T. Masumoto, J. Mater. Sci. 18, 153 (1983).
• [7] J. Ryś, Stereologia Materiałów 1995.
• [8] T. Wejrzanowski, K. Rożniatowski, K. J. Kurzydiowski, 8th Congress for Stereology and Image Analysis, Bordeaux (2001).
• [9] D. A. Rae, V. D. Scott, G. Love, The Metal Society, 57 (1981).