Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Krystalografia pasm ścinania - typu miedzi
Języki publikacji
Abstrakty
The microtextural changes within macroscopic shear bands (MSBs) in high purity aluminium and copper single crystals with {112}(111) initial orientation, deformed by channel die compression, have been studied in detail. Systematic measurements of single orientations by SEM/EBSD and TEM/CBED clearly show that the investigated crystals are stable only in a global sense. The occurrence of the first set of MSBs is connected with a local lattice rotation towards the {001}<110> orientation. In particular, this process directs the (111) slip plane, towards a shear plane and the activation of new, highly stressed {111}<101>+{111}<011>->CP{111}<112> slip systems, is documented. The deformed matrix near MSBs represents a relatively more stable behaviour, and the group of the orientations situated near the C{112}<111>-C{4 4 11}<11 11 8> positions describes it.
W pracy analizowano mikrosteksturowe zmiany zachodzące w obszarze makroskopowo obserwowanych pasm ścinania (MSBs), w monokryształach aluminium i miedzi o orientacji wyjściowej {112}<111>, odkształcanych w próbie nieswobodnego ściskania. Pomiary orientacji lokalnych z wykorzystaniem techniki TEM/CBED a zwłaszcza SEM/EBSD, umozliwiajacej konstruowanie map orientacji, tzw. Orientation Imaging Maps (OIM) wskazuja, że badane kryształy są stabilne jedynie w sensie globalnym. Pojawienie się pierwszej rodziny makroskopowych pasm ścinania związane jest z lokalną zmianą orientacji, obserwowaną na figurze biegunowej jako rozmycie w kierunku orientacji {001}<110>. Jednym ze skutków rotacji sieci krystalicznej wewnątrz obszaru pasma, jest zmiana nachylenia płaszczyzny poślizgów współpłaszczyznowych CP(111) w kierunku nałożenia się z płaszczyzna ścinania a także aktywacja operujących na tej plaszczyźnie poślizgów typu: {111}<101>+{111}<011>->CP{111}<112>. Zmiany orientacji obserwowane w obszarach poza pasmem są znacznie mniejsze i mogą być opisane ciągiem położeń: C{112}<111>-D{4 4 11}<11 11 8>.
Słowa kluczowe
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
205--215
Opis fizyczny
Bibliogr. 22 poz., rys.
Twórcy
autor
- Instytut metalurgii i Inżynierii Materialowej im. A. Krupkowskiego, PAN, 30-059 Kraków, ul. Reymonta 25
Bibliografia
- [1.] K. Morii, H. Mecking, Y. Nakayama, Acta Metall. 33, 379 (1985).
- [2.] P. Wagner, O. Engler, K Lücke, Acta metall. Mater. 43, 3799 (1995).
- [3.] K. Morii, Y. Nakayama, Scripta Metall. 19, 185 (1985).
- [4.] C.D. Kohlhoff, A.S. MaIin, K. Lücke, M. HatherIy, Acta Metall. 36 2841 (1988).
- [5.] Z. Jasieński, T. Baudin, A. Piątkowski, R. Penelle, Scripta Mater. 35, 397 (1996).
- [6.] K. Morii, Y. Nakayama, Trans. Japan Institute of Metals. 22, 857 (1981).
- [7.] Z. Jasieński, H. Paul, A. Piątkowski, A. Litwora, J. Mater. Proc. Techn. 53, 187 (1995).
- [8.] W.Y. Yeung, B.J. Duggan, Acta Metall. 35, 541 (1987).
- [9.] C. Donadille, R. Valie, P. Dervin, R. Penelle, Acta Metall. 37, 1547 (1989).
- [10.] B.J. Duggan, M. Hatherly, W.B. Hutchinson, Scripta Metall. 12, 293 (1978).
- [11] K. Sztwiertnia, F. Haessner, Mater. Sci. Forum. 157-162, 1291 (1994).
- [12.] A. Berger, P.J. Wilbrandt, F. Ernst, U. Klement, P. Haasen, Prog. Mater. Sci. 32 (1988)
- [13.] J. Hjelen, R. 0rsund, E. Nes, Acta Metall. 39, 1377 (1991).
- [14.] CI. Maurice, J.H. Driver, Acta Metall. Mater. 41, 1653 (1993).
- [15.] M. Blicharski, R. Becker. Hsun Hu. Acta Mctall. Mater. 41, 2007 (1993).
- [16.] H. Paul, M. Darrieulat, A. Piątkowski, Z. Metallkd. 92, 1213 (2001).
- [17.] A. Weiderer, P. Klimanek, Mater. Sci. Forum. 273-275, 299 (1998).
- [18] A. Huot, R.A. Schwarzer, J.H. Driver, Mater. Sci. Forum. 273-275, 319 (1998).
- [19.] G.D. Kölhoff, X. Sun, K. Lücke, Proc. ICOTOM 8. 183 (1987).
- [20.] J.H. Driver, D. Juul Jensen, N. Hansen, Acta Metall. Mater. 42, 3105 (1994).
- [21.] A. Godfrey, D. Juul Jensen. N. Hansen. Acta Mater., 46. 835 (1998).
- [22] H. Paul, J.H. Driver, Z. Jasieński, Acta Mater. 50, 815 (2002).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BSW3-0003-0023