Mikroskop skaningowy i mikroanalizator rentgenowski w badaniach struktur stopów metali

• Autorzy: Gajewski M.

Warianty tytułu

EN

The scanning microscope and the X-ray microanalyser in the investigations of the structure of metal alloys

• Konferencja: Problemy metaloznawstwa w technice XXI wieku (2000 ; Kielce, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Stosowanie trawienia chemicznego bądź elektrolitycznego prowadzi nierzadko do deformacji rzeczywistej struktury stopu i istotnie utrudnia wykonanie mikroanalizy rentgenowskiej poszczególnych faz. Niedogodności te eliminuje badanie próbek nie trawionych, w których strukturę ujawnia się metodą kontrastu materiałowego. Istota tej metody polega na wykorzystaniu zależności ilości elektronów wtórnych emitowanych z próbki od jej składu chemicznego. W pracy przedstawiono wyniki badań stellitów wysokostopowych oraz tworzyw, w stosunku do których trawienie jest wręcz niewskazane.

EN

Applying chemical or electrolytic etching often leads to the deformation of the actual alloy structure and makes it difficult to carry out the X-ray analysis of particular phases. These drawbacks are eliminated by using the material contrast method which reveals the structure of unetched samples. The method involves applying the relationship between the number of secondary electrons emitted from a sample and its chemical composition. The paper presents results of investigations of stellites, high alloy cast steels and materials in relation to which etching is not recommended.

Słowa kluczowe

PL

mikroanalizator rentgenowski; mikroskop skaningowy

EN

microscope; microanalyser

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Politechniki Świętokrzyskiej. Mechanika
• Rocznik: 2000
• Tom: Z. 72
• Strony: 341--345
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., tab.

Twórcy

autor

Gajewski M.

• Politechnika Świętokrzyska, Samodzielny Zakład Technologii Maszyn, Kielce

Bibliografia

• [1] Sokołowski J. i in.: Elektronowy mikroskop skaningowy. Wyd. Politechnika Śląska, Gliwice, 1980
• [2] Skudlewski K. i in.: Mikroskopia elektronowa. Wyd. Politechnika Wrocławska, Wrocław, 1979
• [3] Sokołowski J. i in.: Podstawy mikroanalizy rentgenowskiej. Wyd. Politechnika Śląska, Gliwice 1980
• [4] Szummer A. i in.: Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej. WNT, Warszawa.