Nowe możliwości metod dyfrakcyjnych w badaniach cienkich warstw

• Autorzy: Skrzypek S.

Warianty tytułu

EN

New approach to application of X-ray diffraction methods to thin surface layers

• Konferencja: Szkoła Letnia Inżynierii Powierzchni "Młodzi inżynierowie w integracji z Unią Europejską" (2; Kielce-Ameliówka, 11-13.09.2001 r., Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono kilka geometrii dyfrakcji promieniowania X, aby wskazać na ich zalety i wady w zastosowaniu do badań cienkich warstw. Możliwość uzyskiwania ukierunkowanej informacji w stosunku do badanego przedmiotu z obrazu dyfrakcyjnego powoduje, że metody dyfrakcyjne szczególnie nadają się do badań cienkich warstw. Możliwość uzyskiwania ukierunkowanej informacji w stosunku do badanego przedmiotu z obrazu dyfrakcyjnego powoduje, ze metody dyfrakcyjne szczególnie nadają się do badań warstw powierzchniowych. Dla uzyskania tego stwierdzenia przeanalizowano dodatkowo efektywne głębokości wnikania promieniowania X. Dyfrakcja w geometrii stałego kąta padania umożliwia tomograficzne badania właściwości warstw, powłok i filmów.

EN

Majority of diffraction methods have ability to be applied in surface engineering. X-ray diffraction methods are able to measure some properites in demanded direction in investigated object. The X-ray effective depth of penetration is main factor characterising application ability of X-ray diffraction methods to thin films. The grazing angle of X-ray diffraction geometry is becoming as a powerful tool for tomografic investigations of thin layers.

Słowa kluczowe

PL

metody dyfrakcyjne; naprężenia własne; warstwy powierzchniowe

EN

difraction methods; thin layers; surface

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Politechniki Świętokrzyskiej. Mechanika
• Rocznik: 2001
• Tom: Z. 75
• Strony: 91--99
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz, rys.

Twórcy

autor

Skrzypek S.

• Akademia Górniczo-Hutnicza, Wydział Metalurgii i Inżynierii Materiałowej, Al. Mickiewicza 30, PL - 30 059 Kraków

Bibliografia

• 1. D. Senczyk, Laboratorium z rentgenografiii strukturalnej. Skrypt. Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Poznańskiej, Poznań 1974.
• 2. S. J. Skrzypek, Makronaprężenia własne cienkich warstw - pomiar metodą g-sin2 w nowej geometrii dyfrakcji przy stałym kącie padania. Inżynieria Powierzchni (2001), nr 2, ss. 47-55.
• 3. U. Wolfslieg, (…)-Goniometer, HTM 31, (1976), ½, ss. 19-21.
• 4. G. Faninger, Omega-Goniometer, HTM, 31,(1976), ½, ss. 16-18.
• 5. S.J. Skrzypek [11]. Surfaces, Coattings and Their Residual Stresses-New Methodological Approach. Proc. of XVII Conf. APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. Editors H. Morawice, D. Stróż, Word Scientific-Singapore-London-Hong Kong 1998, pp. 417-422.
• 6. S.J. Skrzypek, A. Baczmański, W. Ratuszek, E. Kusior, [12] New Method for Stress Analysis Based on Grazing Incident Angle X-ray Diffraction, J. of Appl. Cryst, 34, (2001), pp. 427-435.
• 7. B.D. Cullily, Elements of X-ray Diffraction, Reading, Mass: Addison-Wesley 1956.
• 8. Skrzypek S.J., Subtelne zmiany struktury i przemiany fazowe przy kontaktowym oddziaływaniu dwóch powierzchni. Praca doktorska, AGH, Kraków 1982.
• 9. Z. Bojarski, E. Łągiewka, Rentgenowska analiza strukturalna. PWN, Warszawa 1988.
• 10. S.J. Skrzypek, E. Kolawa, A. Sawicki Study of the Retained Austenile Phase Transformation by Converstion Electron Mossbauer Spectroskopy and X-ray Diffraction. Mat. Science & Eng. 66, (1984), pp. 145-149.
• 11. J. Chojnacki, Metalografia strukturalna. Wyd. Śląsk, Katowice 1966.