Modelowanie sieci wydzielonych z możliwością kształtowania przebiegów napięć fazowych i stanów awaryjnych

• Autorzy: Bakoń T.

Warianty tytułu

EN

Modeling of separate grids with possibility of phase voltage waveforms and faults shaping

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono uniwersalny model laboratoryjny sieci wydzielonej zasilanej za pomocą przekształtnika tranzystorowego. Stanowisko to umożliwia dowolne kształtowanie przebiegów napięć fazowych, dynamiczne zmiany konfiguracji sieci i odbiorników oraz modelowanie stanów awaryjnych.

EN

This paper presents universal laboratory model of separated grid powered by IGBT converter. Constructed laboratory setup allows free shaping of phases voltage waveforms, dynamic grid and load reconfiguration also short-circuits, faults and errors modeling.

Słowa kluczowe

PL

sieć wydzielona; modelowanie; zwarcie; przekształtniki

EN

separate grid; modeling; fault; converters

• Wydawca: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów PIAP
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Robotyka
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 17, nr 2
• Strony: 401--406
• Opis fizyczny: CD, Bibliogr. 6 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Bakoń T.

• Zakład Gospodarki Energetycznej, Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego,

Bibliografia

• 1. PN-EN 50160:2010+AC:2011, Parametry napięcia zasilającego w publicznych sieciach elektroenergetycznych.
• 2. PN-EN 61000, Kompatybilność elektromagnetyczna (zbiór norm).
• 3. Bakoń T., Staudt V., Steimel A., New Detection Method for Earth Faults in Three-Phases Four-Wire Utility Grids, [in:] 10th International Conference on Optimization of Electrical and Electronic Equipments OPTIM’06, Vol. 1 Electrotechnics, ISBN 978-973-635-703-9, Transilvania University 2006, 197-204.
• 4. Bakoń T., Szybka detekcja typu i miejsca uszkodzenia w sieciach zasilanych przekształtnikami tranzystorowymi, Metrologia dziś i jutro, Politechnika Gdańska, ISBN 83-911669-5-3, 2009, 371-380.
• 5. Niederspannungskabel, Materiały katalogowe firmy Nexans, Cortaillod 2002.
• 6. Bakoń T., System kontrolno-pomiarowy zintegrowany z logiką przekształtnika tranzystorowego, Metrologia dziś i jutro, Politechnika Wrocławska, ISBN 83-7493-539-5, 2010, 163-173.