Analiza wybranych właściwości metrologicznych mikrometrów laserowych

• Autorzy: Mąkowski J.

Warianty tytułu

EN

Analysis of selected properties of metrological laser micrometers

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiona analiza wybranych parametrów metrologicznych mikrometrów laserowych stanowi wstęp do dalszych artykułów omawiających zasadę optycznych pomiarów bezdotykowych. Na podstawie pomiarów kontrolnych wybranego mikrometru laserowego omówiono możliwości pomiarowe tych urządzeń oraz wskazano na ograniczenia w zakresie zmniejszania niepewności pomiaru. Pokazano występującą często niezgodność między podawanymi przez producentów rozdzielczościami a rzeczywistymi parametrami.

EN

This analysis of selected properties of metrological laser micrometers is an introduction to further articles in which principles of optical touchless measuring would be discussed. Basing on control measuring of a selected laser micrometer, measuring possibilities of these units have been discussed, also some restrictions concerning limitation of uncertainty of measuring have been indicated. Frequently appearing discrepancy between resolutions, presented by the producers, and real capabilities have been shown.

Słowa kluczowe

PL

mikrometr laserowy; rozdzielczość; zasada pomiaru

EN

laser micrometer; resolution; principle of measurement

• Wydawca: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów PIAP
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Robotyka
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 17, nr 1
• Strony: 153--157
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Mąkowski J.

Bibliografia

• 1. Borzykowski J. (red.), Współczesna metrologia Zagadnienia wybrane, Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa 2007.
• 2. Dusza J., Gortat G., Leśniewski A., Podstawy miernictwa, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2002.
• 3. Sydenham P.H., Podręcznik metrologii podstawy teoretyczne, Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa 1988.
• 4. Międzynarodowy Słownik Podstawowych i Ogólnych Terminów Metrologii (wyd. polskie), GUM 1996.
• 5. Dokument EA-4/02, Wyrażanie niepewności pomiaru przy wzorcowaniu, GUM 2001.
• 6. Arendarski J., Niepewność pomiarów, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2006.