Dynamic measurement of the curve y(x) defined by parametric relations x(t), y(t) under random disturbances

• Autorzy: Żuchowski A.

Warianty tytułu

PL

Dynamiczny pomiar charakterystyki XYZ określonej przez parametryczne zależności XXX, ZZZ przy zakłóceniach przypadkowych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Analog XY-recorders constructed as servomechanisms with sliding motion have been practically out of use for some time. Drawing the curve y(x) defined by parametric relations xz(t), yz(t) under additive, random disturbances is done by using measuring sensors with negligible dynamic properties, A/D converter card, computer and a printer, with a different time scale and with elimination of the influence of the dynamics of these devices. The influence of disturbances can be significantly lowered either by using special filters before storing the data in computer memory or by suitable processing of the data already stored in the computer memory. In the first case we have to choose an appropriate filter type and its time scale factor T, and in the second case - an appropriate processing mode in order to get the resulting curve Y(X) as close as possible to the theoretical curve y(x). Both techniques provide different possibilities and create different problems which require separate considerations.

PL

Analogowe rejestratory XY budowane jako serwomechanizmy z ruchem ślizgowym praktycznie wyszły z użycia. Wykreślanie charakterystyki y(x) okreslonych zależnościami parametrycznymi xz(t), yz(t) przy obecności addytywnych, losowych zakłóceń odbywa się przy wykorzystaniu czujników pomiarowych o pomijalnych własnościach dynamicznych, karty przetwornika A/C, komputera oraz drukarki, w innej skali czasu z eliminacją wpływu dynamiki tych urządzeń. Wpływ zakłóceń można wydatnie zmniejszyć bądź stosując specjalne filtry jeszcze przed zapisem przebiegów w pamięci komputera, bądź dokonując odpowiedniego przetwarzania sygnałów zakłóconych zapisanych już w pamięci komputera. W pierwszym przypadku należy dobrać odpowiedni typ filtru i jego współczynnik skali czasu T, a w drugim - odpowiedni typ przetwornika tak, by uzyskany przebieg Y(X) był możliwie bliski przebiegowi teoretycznemu y(x). Obie techniki oferują odmienne możliwości i stwarzają problemy wymagające oddzielnego omówienia.

Słowa kluczowe

EN

measurement of curve y(x); disturbance filtration; signal processing

PL

pomiar charakterystyki y(x); filtracja zakłóceń; przetwarzanie sygnałów

• Wydawca: Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej PAN
• Czasopismo: Metrology and Measurement Systems
• Rocznik: 2005
• Tom: Vol. 12, nr 2
• Strony: 151--163
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Żuchowski A.

• Szczecin University of Technology, Institute of Control Engineering, Szczecin, Poland,

Bibliografia

• 1. Żuchowski A.: On measurements of curves y(x) defined by parametric relations x(t) and y(t) with disturbances. PAK 1/1988 (in Polish).
• 2. Żuchowski A.: On passing of slowly varying signals through linear systems. PAK 2/1982 (in Polish).
• 3. Żuchowski A.: Dynamic measurements. Textbook, Szczecin University of Technology, Szczecin 1984 (in Polish).
• 4. Halawa J.: Methods of calculating simplified transmittances and their applications in automatic control and power engineering. Politechnika Wrocławska, Instytut Cybernetyki Technicznej, Prace Naukowe 1991, Seria Monografie Nr 21 (in Polish).
• 5. Kordylewski W., Weck J.: Averaged differentiation of disturbed measured signals. PAK 6/1988 (in Polish).
• 6. Nuttal A.H.: Some windows with very good sidelobe behaviour. Speech and Signal Processing 29 (1981), No. 1, p. 84-91.
• 7. Piotrowski J.: Measurement applications of signal analysis. PWN, Warsaw 1991 (in Polish).
• 8. Boćkowska M., Żuchowski A.: On a certain method of finding parameters for simplified dynamics models. PAK 12/1994 (in Polish).
• 9. Kaszyński R.: Low-pass filters and constant component filters with varying parameters. Prace Naukowe Politechniki Szczecińskiej Nr 569, Instytut Automatyki Przemysłowej Nr 19, Szczecin, 2001 (in Polish).
• 10. Boćkowska M., Żuchowski A.: Method and computer program IDO for identification of parameters of simplified, linear dynamics models and its measurements application. Materiały IV Sympozjum “Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych”, Krynica 1994, Wyd. Zakładu Metrologii AGH, Kraków 1994 (in Polish).