Some methods of diagnosis of analog circuits using mixed signal test bu IEEE 1149.4

• Autorzy: Bartosiński B. , Toczek W.

Warianty tytułu

PL

Metody diagnostyki układów analogowych z wykorzystaniem mieszanej sygnałowo magistrali IEEE 1149.4

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper considers the problem of using the mixed signal test bus IEEE Std 1149.4 infrastructure for the diagnosis of analog PCB interconnects. Three types of interconnects between ICs are investigated: simple type T or [pi] structures, multi-element circuits and multistage circuits. Three diagnostic methods are proposed: a computer-aided analytical method based on Tellegen's theorem, a bilinear transformation method and oscillation-based method. The Matsushita Analog Boundary Test LSI MNABST-1 circuit equipped with the IEEE 1149.4 test bus was used in this research. The methodology of tests and some results of fault identification are presented.

PL

W artykule przedstawiono wybrane metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych zamontowanych na pakiecie pomiędzy układami scalonymi wyposażonymi w magistralę IEEE 1149.4. Prezentowane metody dobrano pod kątem stopnia skomplikowania układów testowanych oraz specyficznych właściwości metrologicznych magistrali, które ograniczają możliwości pomiarowe i aplikacyjność metod. Rozważono trzy typy układów testowanych: proste struktury typu [pi] lub T, układy wieloelementowe oraz układy wielostopniowe, dla których zastosowano, odpowiednio, metodę wykorzystującą twierdzenie Tellegena, metodę transformacji biliniowej oraz metodę przekształcania w układy oscylujące. Wykorzystując twierdzenie Tellegena dokonano identyfikacji struktur typu [pi] i T bazując na niepełnych danych pomiarowych uzupełniając je wynikami symulacji komputerowej. Przedstawiono wyniki wdrożenia metody transformacji biliniowej z użyciem ubogiej dwuprzewodowej struktury szyny analogowej magistrali. Wykazano przydatność metody oscylacyjnej do testowania za pomocą magistrali, układów o strukturze wielostopniowej bez potrzeby stosowania źródła sygnału pomiarowego. Infrastruktura magistrali umożliwiła separację poszczególnych stopni układu, dostęp do ich wejść i wyjść oraz zamknięcie pętli sprzężenia zwrotnego. Omówione metody wdrożono wykorzystując wyposażony w magistralę układ testowy MNABST-1 firmy Matsushita. Przeprowadzone eksperymenty potwierdziły możliwość wykorzystania magistrali do realizacji funkcji komutacyjnych i organizacyjnych: dołączania zewnętrznego oprzyrządowania testu, zmiany warunków pracy układu na czas testowania, transformacji funkcjonalnej testowanego układu oraz zwiększenia obserwowalności układu wielostopniowego.

Słowa kluczowe

EN

diagnostic of analog circuits; mixed signal test bus; IEEE 1149.4

PL

diagnostyka układów analogowych; magistrala mieszana sygnałowo; IEEE 1149.4

• Wydawca: Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej PAN
• Czasopismo: Metrology and Measurement Systems
• Rocznik: 2003
• Tom: Vol. 10, nr 2
• Strony: 157--172
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Bartosiński B.

• Gdańsk University of Technology, Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics

autor

Toczek W.

• Gdańsk University of Technology, Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics

Bibliografia

• 1. IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture. IEEE Std 1149.1-1990.
• 2. IEEE Standard for a Mixed-Signal Test Bus. IEEE Std 1149.4-1999.
• 3. Bartosiński B., Toczek W.: Zastosowanie magistrali IEEE 1149.4 do diagnostyki analogowych układów elektronicznych. II International Congress of Technical Diagnostics. Warsaw, Poland, 19-22 September 2000, 10 s. [CD-ROM].
• 4. Parker K. P., McDermid J. E., Oresjo S.: Structure and Metrology for an Analog Testability Bus. Proceedings of the International Test Conference, 1993, pp. 309-322.
• 5. Chua L. O., Lin P. M.: Komputerowa analiza układów elektronicznych. Algorytmy i metody obliczeniowe. WNT, Warszawa, 1981.
• 6. Trick T., Mayeda W., Sakla A.: Calculation of Parameter Values from Node Voltage Measurements. IEEE Trans. on Circuits and Systems, vol. CAS-26, No.7, 1979, pp. 466-474.
• 7. Specification of Analog Boundary Test LSI (MNABST1). Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. & Matsushita Electronics Corporation, 1996, Version 2.2.
• 8. Toczek W., Bartosiński B.: Strategie testowania układów analogowych z wykorzystaniem magistrali IEEE. V Szkoła-Konferencja Metrologia Wspomagana Komputerowo, MWK’2001, Rynia k/Warszawy, 21-24 maja 2001, t. 3, s. 165-170.
• 9. Czaja Z., Zielonko R.: Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3D and 4D space. 18th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, Budapest, Hungary, 21-23 May 2001, vol. 1, pp. 55-58.