Conditions for measurement, analog-to-digital conversion and frequency analysis of irregularities of profile surface

• Autorzy: Boryczko A.

Warianty tytułu

PL

Uwarunkowania pomiaru, przetwarzania analogowo-cyfrowego i analizy częstotliwościowej nierówności profilu powierzchni

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper presents the conditions of measurement and analog-to-digital conversion and of frequency analysis of turned surface irregularities for the purpose of recognition of its main components. The limitations in measurement by stylus, which transforms transverse irregularities, have been presented. Dependence of digital parameters of measurement irregularity determining ranges of their analysis has also been discussed. For sampling interval value concerning unrealised Shannon's theorem the condition of "cut-off" high-frequency of irregularities signal has been shown. In summary the resulting frequency range of surface irregularities with high and low-frequency limitations has been given. Furthermore, the indication for the selection of suitable range of significant surface irregularities has been included.

PL

W pracy przedstawiono uwarunkowania pomiaru, przetwarzania analogowo-cyfrowego i analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych dla celów rozpoznawania ich głównych składowych. Przedstawiono ograniczenia w pomiarze igłą, która odwzorowuje nierówności poprzeczne. Podano zależności parametrów cyfrowych pomiaru nierówności warunkujące zakresy ich rozpatrywania. Dla wartości przedziału próbkowania, dla którego nie jest spełnione twiedzenie o próbkowaniu przedstawiono warunek obcięcia górnopasmowego sygnału nierówności. W posumowaniu podano wynikowy zakres częstotliwościowy nierówności powierzchni z dolno i górnoczęstotliwosciowymi rodzajami ograniczeń oraz wskazanie ich doboru dla otrzymania właściwego zakresu znaczących nierówności powierzchni.

Słowa kluczowe

EN

irregularities of profile surface; measurement conditioning; analog-to-digital conversion; frequency analysis

PL

nierówności profili powierzchni; uwarunkowania pomiaru; przetwarzanie analogowo-cyfrowe; analiza częstotliwościowa

• Wydawca: Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej PAN
• Czasopismo: Metrology and Measurement Systems
• Rocznik: 2002
• Tom: Vol. 9, nr 2
• Strony: 159--169
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Boryczko A.

• Gdańsk University of Technology, Faculty of Mechanical Engineering

Bibliografia

• 1. Konczakowski A.: Metrologiczne uwarunkowania analizy widmowej struktury geometrycznej powierzchni w diagnostyce obrabiarek, Zeszyty Naukowe Politechniki Gdańskiej, Mechanika nr 62, Gdańsk 1991.
• 2. Bendat J. S., Piersol A. G.: Metody analizy i pomiaru sygnałów losowych, PWN, Warszawa 1976.
• 3. Dong W. P, Mainsah E., Stout K. J.: Determination of appropriate sampling conditions for three-dimensional microtopography measurement, Int. J. Mach. Tools Manufact. vol. 36, no. 12, 1996, pp. 1347-1362.
• 4. Boryczko A.: Frequential components of surface geometry for its quality assessment, 6th ISMQC IMEKO Symposium “Metrology for quality control in production", Vienna 1998, pp. 77-81.
• 5. Boryczko A.: Vie influence of relative displacement of the tool to the workpiece on forming the roughness of surface turned. Advances in Manufacturing Science and Technology, vol. 24, no. 2, 2000, pp. 95-105.
• 6. Cheung C. F., Lec W. B.: A multi-spectrum analysis of surface roughness formation in ultra-precision machining. Precision Engineering, vol. 24, no. 1, 2000, pp. 77-87.
• 7. Trumpold H., Mack R.: Process-integrated measurements for quality control with turning. Annals of the CIRP, vol. 41/1/I992, pp. 463-65.
• 8. ISO/DIS 4288, 1993, Determination of surface roughness parameters using stylus instruments.
• 9. Boryczko A.: Measurement of relative tool displacement to the workpiece for the assessment of influences of machining errors in surface profiles, Measurement, vol. 31, no. 2, 2002, pp. 93-105, www.elsevier.com/locate/measurement.