Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Digital distributed control system for the UFP-400 materials testing machine
Konferencja
Konferencja naukowa: Górnictwo Zrównoważonego Rozwoju 2002
Języki publikacji
Abstrakty
W artykule przedstawiono koncepcję i realizację rozproszonego cyfrowego układu sterowania maszyny wytrzymałościowej UFP-400, wykorzystującego sieć CAN do wewnętrznej transmisji danych oraz komputer PC jako terminal operatorski. Układ umożliwia prowadzenie badań statycznych oraz zmęczeniowych próbek wraz z rejestracją wyników w bazie danych.
The paper presents design and implementation of a distributed digital control system for the UFP-400 materials-testing machine. His system uses CAN-Bus network for internal data transmission and PC computer as an operator terminal and recording device. System can provide static and low-cycle fatigue specimen testing with data recording in a database.
Rocznik
Tom
Strony
163--171
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz.
Twórcy
autor
- Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa Politechniki Śląskiej ul. Akademicka 2 44-100 Gliwice tel.: (0-32) 237-12-50
autor
- Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa Politechniki Śląskiej ul. Akademicka 2 44-100 Gliwice tel.: (0-32) 237-12-50
autor
- Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa Politechniki Śląskiej ul. Akademicka 2 44-100 Gliwice tel.: (0-32) 237-12-50
autor
- Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa Politechniki Śląskiej ul. Akademicka 2 44-100 Gliwice tel.: (0-32) 237-12-50
Bibliografia
- 1. Clarke W.D., Hinton C .J.: Adaptive Control of Materials-testing Machines. Automatica, Vol.33, No. 6, 1997, s. 1119-1131.
- 2. Łagoda T., Macha E.: Wieloosiowe zmęczenie losowe elementów maszyn i konstrukcji. Cz. III. SiM z. 104, Oficyna Wyd. Politechniki Opolskiej, Opole 1998.
- 3. MCP2510 Stand-Alone CAN Controller with SPI™ Interface. Microchip Technology Inc, 2001.
- 4. PCA 82C250 CAN Controller Interface. Product Specification. Philips Semiconductors, 2000.
- 5. PIC16F87x Data Sheet. 28/40 -P in 8-Bit CM OS FLA SH Microcontrollers. Microchip Technology Inc, 2001.
- 6. PN-76/H-04325 Badania metali na zmęczenie. Pojęcia podstawowe i ogólne wytyczne przygotowania próbek oraz przeprowadzenia prób.
- 7. PN-84/H-04334 Badania niskocyklowego zmęczenia metali.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BSL5-0010-0033