PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Badanie skuteczności metod testowania wielowartościowych układów cyfrowych

Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Research on efficiency of the multiple-valued systems testing
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule przedstawiono wyniki badania skuteczności testowania układów MVL, przy wykorzystaniu w procesie weryfikacji odpowiedzi zaproponowanych technik kompresji stratnej. Zaprezentowano opracowane wzory pozwalające na oszacowanie wartości prawdopodobieństwa maskowania uszkodzeń dla proponowanych technik, wyznaczając zależność maskowania od podstawy rozważanej logiki oraz - dla techniki liniowej - liczby stopni układu kompresji - dla technik nieliniowych - cech zliczeniowych ciągu badanego. Opracowano i zaimplementowano algorytmy potrzebne do realizacji proponowanego eksperymentu naukowego, badającego w warunkach symulacji komputerowej skuteczność użycia proponowanych technik kompresji w procesie weryfikacji wyników testu, w odniesieniu do przykładowych układów realizujących funkcje wielowartościowe.
EN
The article shows results of research on efficiency of the MVL systems testing with the application of suggested of compression techniques in the process of response verification. The conceived formulas enabling to estimate the value of faults masking probability for the suggested techniques have been presented. The dependence between masking and the basis of logic as well as, for the linear technique, the length of a compressor, whereas, for the non-linear techniques, a selected syndrome. The algorithms required for the realization of the scientific experiment have been conceived and implemented. By means of computer simulation, the efficiency of implementation of the suggested compression techniques has been assessed in the process of test results verification in reference to sample systems realizing multi-valued functions.
Rocznik
Tom
Strony
91--109
Opis fizyczny
Bibliogr. 12 poz.
Twórcy
Bibliografia
  • 1. Badura D.: Techniki projektowania samotestowalnych układów i pakietów cyfrowych wykorzystujące rejestry szeregowe z nieliniowym sprzężeniem zwrotnym. Uniwersytet Śląski, Katowice 1999.2. Hedke Rolf: Systemy mikroprocesorowe. Wydawnictwo Naukowo-Techniczne, Warszawa 1987.
  • 3. Hławiczka A.: Testowanie i projektowanie łatwo testowalnych układów i pakietów cyfrowych. Skrypty uczelniane nr 1586, cz. I, Wyd. Pol. Śl., Gliwice 1990.
  • 4. Hławiczka A.: Testowanie i projektowanie łatwo testowalnych układów i pakietów cyfrowych. Skrypty uczelniane nr 1788, cz. II, Wyd. Pol. Śl., Gliwice 1990.
  • 5. Hławiczka A., Mitas A., Ostas P., Saltarski R.: Analizatory sygnatur. Poradnik dla użytkownika. Skrypty uczelniane nr 1706, Wyd. Pol. Śl., Gliwice 1993.
  • 6. Kubiś M.: Elekronizacja. WKiŁ, Warszawa 1984.
  • 7. Mitas A.: Zwiększanie skuteczności wykrywania uszkodzeń metodami kompresji ciągów. Pol. Śl., Gliwice 1988. Praca doktorska.
  • 8. Mitas A.: Optymalizacja kompresji informacji w pseudoprzypadkowym testowaniu układów cyfrowych. „Kwartalnik Elektroniki i Telekomunikacji” 1999, 45, z. 3-4, ss.393-403.
  • 9. Rine D.C.: Computer Science and Multiple-Valued Logic. Theory and Applications. Elsevier Science Publishers B.V. The Netherlands 1991.
  • 0. Sapiecha K., Nowicki M.: Wykrywanie uszkodzeń w układach i systemach cyfrowych. WPW, Warszawa 1983.
  • 11. Sowiński A.: Automatyczne testowanie w mikroelektronice. Wydawnictwo Komunikacji i Łączności, Warszawa 1991.
  • 12. Yanushkevitch S.: Logic Differential Calculus in Multi-Valued Logic Design. Szczecin: Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Szczecińskiej. Institute of Computer Science & Information Systems, Technical University of Szczecin, Szczecin 1997.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BSL2-0008-0071
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.