Pomiary chropowatości powierzchni z zastosowaniem oprogramowania TALYPROFILE

• Autorzy: Kaźmierczak M. , Patyk P.

Warianty tytułu

EN

Measurements of surface roughness by the use of TALYPROFILE software

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono podstawy teoretyczne dotyczące pomiarów geometrycznych powierzchni, koncentrując się w szczególności na zagadnieniach dotyczących pomiarów chropowatości powierzchni. Przedstawione w artykule przykłady dotyczą pomiarów zrealizowanych przy użyciu urządzenia Surtronic 3+, oraz oprogramowania TalyProfile Silver firmy Taylor Hobson.

EN

The article presents theoretical rudiments refering to geometrical measurements of the surface, focusing on issues of surface roughness measurements. The examples included in this article regard measurements conducted with Surtronic 3+ device, along with TalyProfile software.

Słowa kluczowe

PL

chropowatość powierzchni; TalyProfile; Surtonic 3+

EN

surface roughness; TalyProfile; Surtonic 3+

• Wydawca: Katedra Budowy Maszyn. Politechnika Śląska
• Czasopismo: Prace Naukowe Katedry Budowy Maszyn / Politechnika Śląska
• Rocznik: 2009
• Tom: nr 1
• Strony: 249--272
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz.

Twórcy

autor

Kaźmierczak M.

autor

Patyk P.

• Katedra Budowy Maszyn, Politechnika Śląska, 44-100 Gliwice, ul. Konarskiego 18A, pokój 491, tel. [phone],

Bibliografia

• [1] Adamczyk S.: Pomiary geometryczne powierzchni, zarysy kształtu falistości I chropowatości. Wydawnictwo Naukowo-Techniczne. Warszawa 2008.
• [2] PN-EN ISO 4287:1999, Specyfikacja geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Terminy definicje i parametry struktury geometrycznej powierzchni.
• [3] PN-EN ISO 12085:1999 Specyfikacja geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Parametry metody motywów.
• [4] PN-EN ISO 13565-1:1999 Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa; powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych. Filtrowanie i ogólne warunki pomiaru.
• [5] PN-EN ISO 13565-2:1999 Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa; powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych. Opis wysokości za pomocą linearyzacji krzywej udziału materiałowego.
• [6] PN-EN ISO 13565-3:2002 Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa; powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych. Część 3: Opis wysokości za pomocą dystrybuanty udziału materiałowego.
• [7] PN-EN ISO 5436-1:2002 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS). Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa; wzorce. Część pierwsza: Wzorce materialne”.
• [8] PN-ISO 3274:1997 Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Charakterystyki nominalne przyrządów stykowych (z ostrzem odwzorowującym).
• [9] Praca zbiorowa pod redakcją J.Kosmola: Laboratorium z metrologii warsztatowej. Wydawnictwo Politechniki Śląskiej. Gliwice 1997.
• [10] Jakubiec W., Malinowski J.: Metrologia wielkości geometrycznych. Wydawnictwo Naukowo-Techniczne. Warszawa 2004.
• [11] Pawlus P.: Topografia powierzchni. Pomiar, analiza, oddziaływanie. Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej. Rzeszów 2005.
• [12] Łukianowicz C: Podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła. Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Koszalińskiej. Koszalin 2001.
• [13] Nowicki B.: Zaawansowane metody opisu i pomiarów struktury geometrycznej powierzchni. Mechanik 80, nr 1/2007, s. 36-41.
• [14] Dobrzański T.: Chropowatość i falistość powierzchni: oznaczenia na rysunkach technicznych. WNT, Warszawa 1977.