Doskonalenie odlewniczych systemów produkcyjnych poprzez rozwój badań

• Autorzy: Mutwil J.

Warianty tytułu

EN

Improvement of foundry production systems by research development

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Omówiono znaczenie rozwoju badań w doskonaleniu odlewniczych systemów produkcyjnych. Opisano mikroprocesorowy system pomiarowy przystosowany do badania zjawisk i procesów odlewniczych. Opisano zastosowanie systemu do badania ewolucji skurczu odlewniczego i naprężeń skurczowych.

EN

The significance of research development in improving of casting production systems has been discussed. A microcomputer measuring system for investigation of the foundry phenomena and processes has been described. The application of measuring system for examination of casting contraction and contraction stresses evolution has been described.

Słowa kluczowe

PL

odlewnictwo; system produkcyjny; mikroprocesorowy system pomiarowy

EN

investigation of foundry phenomena and processes; microcomputer measuring system

• Wydawca: Komisja Odlewnictwa Polskiej Akademii Nauk Oddział w Katowicach
• Czasopismo: Archiwum Odlewnictwa
• Rocznik: 2006
• Tom: R. 6, nr 19
• Strony: 195--200
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., rys.

Twórcy

autor

Mutwil J.

• Wydział Mechaniczny Uniwersytetu Zielonogórskiego 65-546 Zielona Góra, ul. Szafrana 4,

Bibliografia

• [1] Gawroński J. i in.: Profesor Stanisław Jura - twórca teorii i zastosowań przemysłowych diagnostyki oraz zużycia metali i stopów, Archiwum Odlewnictwa, vol. 3, nr 16- wyd. specjalne, 2004, s. 13-41.
• [2] Pietrowski S. i in.: System komputerowy kontroli i sterowania jakością żeliwa z wykorzystaniem metody ATD, Archiwum Odlewnictwa, vol. 2, 2002, s. 222-226.
• [3] Pietrowski S. i in.: System komputerowy kontroli i sterowania jakością siluminów przeznaczonych na koła samochodowe, Archiwum Odlewnictwa, vol. 10, 2003, s. 112-116.
• [4] Mutwil J., Żygadło M: Mikrokomputerowy system do badania zjawisk i procesów odlewniczych, Archiwum Technologii Maszyn i Automatyzacji, vol. 20, nr 1, 2000, s. 117-126.