Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Skanning electrone microscopy in investigations of cast steels structures
Języki publikacji
Abstrakty
W referacie przedstawiono wykorzystanie efektów emisji elektronów pierwotnych rozproszonych wstecznie do ujawniania struktury i identyfikacji faz poprzez wytwarzanie kontrastu kompozycyjnego i analizę składu chemicznego w elektronowym mikroskopie skaningowym współpracującym z mikroanalizatorem rentgenowskim EDS. Przestawiono zalety tej metody badawczej na przykładach badania: struktury wtrąceń niemetalicznych, struktury staliwa austenityczno - ferrytycznego Cr-Ni + Mo stabilizowanego niobem oraz struktury brązu B101.
This paper submits useing effect of backscattered electrons emission for structure elicit and phases identifications through compounds contrast making and chemical analysis. The investigations were made by means of scanning electron microscopy (SEM) and energy dispersive X-Ray microanalysis (EDS). The advantages of this method are also described.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
453--462
Opis fizyczny
Bibliogr. 4 poz., rys., wykr.
Twórcy
Bibliografia
- [1] L. Klimek, B. Pietrzyk: Electron backscatter diffraction as a useful method for alloys microstructure characterization. Journal of Alloys and Compounds, vol. 382, s.17 - 23, 2004.
- [2] E. H. Darlington: Backscattering of 10 - 100keV electrons from thick targets. J. Phys. D., vol.8, s.85 - 93, 1975.
- [3] H. Dresher, L. Reimer, H. Seidek: Rückstreukoeffizient und Secunderelektronenausbeuthe von 10 - 100 keV Elektronen und Beziehungen zur Rasterelektronenmikroskopie. Z. Angew. Phys., vol.29, s. 331 - 336, 1970.
- [4] A. Szummer i in.: Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej, WNT, Warszawa, 1994.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPZ3-0044-0052