Badania wybranych czujników temperatury współpracujących z kartami pomiarowymi w LabVIEW

• Autorzy: Podlejski K.

Warianty tytułu

EN

Testing choosen temperature sensors operated with the LabVIEW DAQ Board

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Czujniki temperatury należą do grupy przetworników często stosowanych w systemach automatyzacji procesów kontrolno-pomiarowych. Ich podstawowe parametry określane są w kartach katalogowych. Charakterystyki odpowiedzi czujników podawane są dla ogrzanego oleju i ogrzanego powietrza. Wyniki eksperymentów realizowanych w środowisku LabVIEW z wykorzystaniem kart pomiarowych i czujników temperatury wskazują na różnice w sygnałach wyjściowych czujników, odbiegające od deklarowanych danych katalogowych. Różnice te są szczególnie widoczne przy stosowaniu kart pomiarowych wyższych rozdzielczości i dotyczą współczynnika przetwarzania, liniowości, dokładności i czasowej charakterystyki odpowiedzi. Przyczyny występujących różnic są spowodowane prawdopodobnie warunkami pracy czujników, odbiegającymi od badań modelowych. W wielu zastosowaniach LabVIEW, wybór kart pomiarowych i czujników pomiarowych różnych wielkości fizycznych wymaga kompromisu ze względu na przyjęte kryteria optymalizacji działania systemu kontrolno-pomiarowego. Artykuł zawiera wyniki badań dwóch czujnikówtemperatury stosowanych w symulacji procesu kontroli produkcji pary przegranej w elektrowniach.

EN

The article presents a some problem of the DAQ Board to the temperature sensors. Misapplication connection caused a ground loop-potential are added to measured signal. Second eerror follow from work reference supply at elevated temperature.

Słowa kluczowe

PL

czujniki temperatury; LabVIEW

EN

virtual instruments; LabVIEW

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
• Czasopismo: Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Politechniki Wrocławskiej. Studia i Materiały
• Rocznik: 2009
• Tom: Vol. 63, nr 29
• Strony: 537--543
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz.

Twórcy

autor

Podlejski K.

• Politechnika Wrocławska, Instytut Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych, 50-370 Wrocław, ul. Smoluchowskiego 19,

Bibliografia

• [1] PODLEJSKI K., RAK J., Symulacja procesu produkcji pary przegrzanej, Prace Naukowe Inst. Maszyn i pomiarów Elektrycznych Pol. Wroc. Nr 54, 2007, 367-374.
• [2] TŁACZAŁA W., Środowisko LabVIEW w eksperymencie wspomaganym komputerowo, Warszawa, WN-T, 2002.
• [3] National Semiconduktor., LM335 Precision Temperature Sensors.
• [4] National Semiconductor., LM35 Precision Centigrade Temperature sensors.
• [5] National Instruments., NI 622x Specification.
• [6] National Instruments., M Series User Manual NI622x, 2004-2006.