Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Testing choosen temperature sensors operated with the LabVIEW DAQ Board
Języki publikacji
Abstrakty
Czujniki temperatury należą do grupy przetworników często stosowanych w systemach automatyzacji procesów kontrolno-pomiarowych. Ich podstawowe parametry określane są w kartach katalogowych. Charakterystyki odpowiedzi czujników podawane są dla ogrzanego oleju i ogrzanego powietrza. Wyniki eksperymentów realizowanych w środowisku LabVIEW z wykorzystaniem kart pomiarowych i czujników temperatury wskazują na różnice w sygnałach wyjściowych czujników, odbiegające od deklarowanych danych katalogowych. Różnice te są szczególnie widoczne przy stosowaniu kart pomiarowych wyższych rozdzielczości i dotyczą współczynnika przetwarzania, liniowości, dokładności i czasowej charakterystyki odpowiedzi. Przyczyny występujących różnic są spowodowane prawdopodobnie warunkami pracy czujników, odbiegającymi od badań modelowych. W wielu zastosowaniach LabVIEW, wybór kart pomiarowych i czujników pomiarowych różnych wielkości fizycznych wymaga kompromisu ze względu na przyjęte kryteria optymalizacji działania systemu kontrolno-pomiarowego. Artykuł zawiera wyniki badań dwóch czujnikówtemperatury stosowanych w symulacji procesu kontroli produkcji pary przegranej w elektrowniach.
The article presents a some problem of the DAQ Board to the temperature sensors. Misapplication connection caused a ground loop-potential are added to measured signal. Second eerror follow from work reference supply at elevated temperature.
Słowa kluczowe
Rocznik
Tom
Strony
537--543
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz.
Twórcy
autor
- Politechnika Wrocławska, Instytut Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych, 50-370 Wrocław, ul. Smoluchowskiego 19, krzysztof.podlejski@pwr.wroc.pl
Bibliografia
- [1] PODLEJSKI K., RAK J., Symulacja procesu produkcji pary przegrzanej, Prace Naukowe Inst. Maszyn i pomiarów Elektrycznych Pol. Wroc. Nr 54, 2007, 367-374.
- [2] TŁACZAŁA W., Środowisko LabVIEW w eksperymencie wspomaganym komputerowo, Warszawa, WN-T, 2002.
- [3] National Semiconduktor., LM335 Precision Temperature Sensors.
- [4] National Semiconductor., LM35 Precision Centigrade Temperature sensors.
- [5] National Instruments., NI 622x Specification.
- [6] National Instruments., M Series User Manual NI622x, 2004-2006.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPW9-0009-0052